[发明专利]用于设计存储器件的退化技术有效
申请号: | 200710142645.9 | 申请日: | 2007-08-20 |
公开(公告)号: | CN101136251A | 公开(公告)日: | 2008-03-05 |
发明(设计)人: | H·U·加耶瓦;I·常;J·宽;C·皮特日克;M·-H·森 | 申请(专利权)人: | ARM有限公司 |
主分类号: | G11C29/00 | 分类号: | G11C29/00 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 张雪梅;王小衡 |
地址: | 英国*** | 国省代码: | 英国;GB |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 设计 存储 器件 退化 技术 | ||
1.一种由分组的存储器结构制造存储器件的实例的方法,该分组的存储器结构指定了最大存储器组数和每一存储器组的最大行数,该方法包括以下步骤:
(a)接收表示所述存储器件的多个特性的输入参数,所述特性至少包括用于所述存储器件的行数R;
(b)对该分组的存储器结构实施退化过程,以产生具有所述特性的存储器件的所述实例,该退化过程包括以下步骤:
(i)为所述实例选择存储器组数B,其中所述数目是小于或等于由该分组的存储器结构指定的最大存储器组数的整数,并且B不限于是R的因数;以及
(ii)在所述步骤(b)(i)所选的所述存储器组当中划分行数R,以使在每一个存储器组中,于该存储器组中的行数是小于或等于由该分组的存储器结构指定的每一存储器组的最大行数的整数。
2.如权利要求1的方法,其中执行所述步骤(b)(i)以便产生具有为具有所述特性的所述存储器件所需的最小存储器组数的实例作为所述实例。
3.如权利要求2的方法,其中执行所述步骤(b)(ii)以便至少在除了所述实例的所述存储器组中的一个之外的所有存储器组中提供每一存储器组的最大行数。
4.如权利要求1的方法,其中该分组的存储器结构指定了在一对存储器组之间共享的外围逻辑,所述退化过程进一步包括以下步骤:
如果在所述步骤(b)(i)选择了奇数个存储器组,则执行去除过程以从与不成对的存储器组相关的任何外围逻辑去除一个或多个部件。
5.如权利要求1的方法,其中在所述步骤(a),所述多个特性由所述输入参数获得,当获得所述行数R时,所述行数可选择为小于或等于由该分组的存储器结构支持的最大行数的二的任何倍数。
6.如权利要求1的方法,其中所述输入参数包括由存储器件存储的字数、用于存储器件的多路复用器尺寸和用于存储器件的输入/输出位数,并且所述多个特性由其得到,所述特性包括所述存储器件的所述行数R和列数。
7.一种携带计算机程序的计算机可读介质,该计算机程序可操作用以使得计算机系统实施由分组的存储器结构产生存储器件的实例的方法,该分组的存储器结构指定最大存储器组数和每一存储器组的最大行数,该方法包括以下步骤:
(a)接收表示所述存储器件的多个特性的输入参数,所述特性至少包括用于所述存储器件的行数R;
(b)对该分组的存储器结构实施退化过程,以产生具有所述特性的存储器件的所述实例,该退化过程包括以下步骤:
(i)为所述实例选择存储器组数B,其中所述数目是小于或等于由该分组的存储器结构指定的最大存储器组数的整数,并且B不限于是R的因数;以及
(ii)在所述步骤(b)(i)所选的所述存储器组当中划分行数R,以使在每一个存储器组中,于该存储器组中的行数是小于或等于由该分组的存储器结构指定的每一存储器组的最大行数的整数。
8.一种通过实施如权利要求1中所述的方法由分组的存储器结构产生的存储器件的实例。
9.一种用于由分组的存储器结构制造存储器件的实例的系统,该分组的存储器结构指定最大存储器组数和每一存储器组的最大行数,该系统包括:
用于接收表示所述存储器件的多个特性的输入参数的输入,所述特性至少包括用于所述存储器件的行数R;
退化逻辑,用于对该分组的存储器结构实施退化过程以产生具有所述特性的存储器件的所述实例,该退化过程包括以下步骤:
(i)为所述实例选择存储器组数B,其中所述数目是小于或等于由该分组的存储器结构指定的最大存储器组数的整数,并且B不限于是R的因数;以及
(ii)在所述步骤(i)所选的所述存储器组当中划分行数R,以使在每一个存储器组中,于该存储器组中的行数是小于或等于由该分组的存储器结构指定的每一存储器组的最大行数的整数。
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