[发明专利]一种针对数字接口的TDSCDMA一体化模块的自动测试方法和系统有效
申请号: | 200710151936.4 | 申请日: | 2007-09-21 |
公开(公告)号: | CN101119168A | 公开(公告)日: | 2008-02-06 |
发明(设计)人: | 林巍;刘道生;余华安 | 申请(专利权)人: | 深圳市虹远通信有限责任公司 |
主分类号: | H04B17/00 | 分类号: | H04B17/00;H04Q7/34;H04J13/02 |
代理公司: | 北京宇生知识产权代理事务所 | 代理人: | 倪骏 |
地址: | 518055广东省深*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 针对 数字 接口 tdscdma 一体化 模块 自动 测试 方法 系统 | ||
1.一种针对数字接口的TDSCDMA一体化模块的自动测试方法,其中包括:
a、主控计算机通过GPIB总线控制TDSCDMA信号源和频谱仪;
b、主控计算机通过485总线控制TDSCDMA一体化模块和射频矩阵开关,其中控制TDSCDMA一体化模块是通过TDSCDMA一体化模块上的数字接口来完成模块的设置和状态读取,控制射频矩阵开关是用于完成上下行通路的自动倒换;
c、主控计算机按测试流程对TDSCDMA一体化模块主要射频指标进行测试;
d、主控计算机根据测试情况调整搜索TDSCDMA一体化模块的最佳参数。
2.根据权利要求1所述的方法,其中使用特定SCPI命令控制TDSCDMA信号源产生测试所需的TDSCDMA帧波形,使用特定SCPI命令控制TDSCDMA频谱仪进入时隙功率测量、ACPR测量和SEM测量模式。
3.根据权利要求2所述的方法,其中通过485命令控制射频矩阵开关完成上下行通路的自动倒换。
4.根据权利要求3所述的方法,所述测试流程包括TDSCDMA时隙功率测试、同步功能测试、增益测试、数字衰减测试、ACPR测试和SEM测试。
5.一种TDSCDMA一体化模块的自动测试系统,包括主控计算机、TDSCDMA信号源、TDSCDMA频谱仪、衰减器、射频矩阵开关和被测TDSCDMA一体化模块,其中所述主控计算机通过GPIB总线连接到所述TDSCDMA信号源和所述TDSCDMA频谱仪,对所述TDSCDMA信号源和所述TDSCDMA频谱仪进行控制,还通过485总线连接到所述TDSCDMA一体化模块和所述射频矩阵开关,对所述TDSCDMA一体化模块和所述射频矩阵开关进行控制;
所述被测的TDSCDMA一体化模块上行和下行连接到射频矩阵开关;
所述射频矩阵开关的信号通过衰减器的数字衰减之后发送到TDSCDMA频谱仪;
所述被测的TDSCDMA一体化模块包括一个数字接口,可以通过485命令完成模块的设置和状态读取,同样通过485命令控制所述射频矩阵开关完成上下行测试射频通路的倒换。
6.如权利要求5所述的自动测试系统,其中所述的485总线上的协议由做TDSCDMA一体化模块的厂家自定义的。
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