[发明专利]一种针对数字接口的TDSCDMA一体化模块的自动测试方法和系统有效

专利信息
申请号: 200710151936.4 申请日: 2007-09-21
公开(公告)号: CN101119168A 公开(公告)日: 2008-02-06
发明(设计)人: 林巍;刘道生;余华安 申请(专利权)人: 深圳市虹远通信有限责任公司
主分类号: H04B17/00 分类号: H04B17/00;H04Q7/34;H04J13/02
代理公司: 北京宇生知识产权代理事务所 代理人: 倪骏
地址: 518055广东省深*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 针对 数字 接口 tdscdma 一体化 模块 自动 测试 方法 系统
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种TDSCDMA通信中的自动测试方法,特别涉及一种TDSCDMA一体化模块的生产自动化测试方法。

背景技术

TDSCDMA是国际电信联盟ITU正式发布的第三代移动通信空中接口技术规范之一。TDSCDMA一体化模块是TDSCDMA网尤其是TDSCDMA直放站的建设中大量用到的一种设备。

因为TDSCDMA技术规范相对较复杂,造成一体化模块生产测试方面也较复杂。主要体现在各种测试模式频繁切换,测试指标项增多,在TDSCDMA模式下,信号源及频谱仪的操作复杂按键次数多,所需读取的信息数据也很多,还要进行上下行倒换分别测试。如果按目前人工测试方式生产测试TDSCDMA一体化模块,将会花费测试2G模块2-3倍的时间,而且测试质量受人为因素影响。

发明内容

为了克服上述缺点,本发明提供了一种针对数字接口的TDSCDMA一体化模块的自动测试方法,通过控制仪器及被测模块,完成要求的TD-SCDMA一体化模块射频指标测试,并在测试中调整搜索模块的最佳参数取代了人工繁琐的测试,缩短了TDSCDMA一体化模块的生产测试时间。该方法包括如下内容:

a、通过GPIB总线控制TDSCDMA信号源和频谱仪

b、通过485总线控制TDSCDMA一体化模块和射频矩阵开关

c、主控计算机按测试流程完成TDSCDMA一体化模块主要射频指标测试

d、根据测试情况调整搜索TDSCDMA一体化模块的最佳参数

本发明还提供了一种TDSCDMA一体化模块自动测试系统,包括主控计算机、TDSCDMA信号源、TDSCDMA频谱仪、衰减器、射频矩阵开关、被测TDSCDMA一体化模块,其中

所述主控计算机通过GPIB总线连接到所述TDSCDMA信号源和所述TDSCDMA频谱仪,对其进行控制,还通过485总线连接到所述TDSCDMA一体化模块和所述射频矩阵开关,对其进行控制;

所述被测的TDSCDMA一体化模块上行和下行到连接到射频矩阵开关;

所述射频矩阵开关的信号通过衰减器的数字衰减之后发送到TDSCDMA频谱仪;

所述被测的TDSCDMA一体化模块包括一个数字接口,可以通过485命令完成模块的设置和状态读取,同样通过485命令控制所述射频矩阵开关完成上下行测试射频通路的倒换。

附图说明

图1是根据本发明的下行测试所需的TDSCDMA帧波形;

图2是根据本发明的上行测试所需的TDSCDMA帧波形;

图3是本发明的系统模块结构图;

图4是根据本发明的控制与测试流程图。

具体实施方式

为了使本发明的方案更加清楚明白,以下结合实例对本发明进一步详细说明。本发明的具体实施例使用的TDSCDMA信号源和频谱仪分别为:Agilent4438C和Agilent4445。

图1、图2为TDSCDMA5ms帧结构。下行导频时隙DPTS和上行导频时隙UPTS为特殊时隙(另外DPTS和UPTS之间还有1个保护时隙GP未标出)。TS0~TS6为业务时隙,TS0总是分配给下行,而TS1总是分配给上行。图1为下行测试所需的TDSCDMA帧时隙配置波形。标深色的TS0、DPTS、TS4、TS5、TS6为使用的时隙。图2为上行测试所需的TDSCDMA帧时隙配置波形。标深色的UPTS、TS1、TS2、TS3为使用的时隙。TDSCDMA帧时隙配置波形由TDSCDMA信号源提供的工具软件生成文件存在信号源中,在测试时通过SCPI命令调用输出。

表1列出了测试所使用SCPI命令对应表。经过这些命令在测试中的组合使用,使TDSCDMA信号源产生所需的测试信号使TDSDMA频谱仪进入各种测量模式,完成测量读取数据。

表1

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