[发明专利]一种判别内外层瑕疵的检测方法与系统

权利要求书

1.一种判别内外层瑕疵的检测方法，其步骤包括：

将具有多层结构的一待测物体，设置于一承载装置上；

提供至少一影像撷取装置，相对应于所述的承载装置；

开启至少一背光装置，利用所述的影像撷取装置，取得所述的待测物体至少一总瑕疵影像；

开启至少一表面照明装置，进行所述的待测物体的表面照明，利用所述的影像撷取装置，取得所述的待测物体至少一表面瑕疵影像；

通过一计算机解析单元，分析所述的总瑕疵影像及所述的表面瑕疵影像；以及

将所述的总瑕疵影像扣除所述的表面瑕疵影像，所得即为所述的待测物体的内层瑕疵影像。

2.如权利要求1所述的判别内外层瑕疵的检测方法，可应用于具有多层结构的背光模块检测、液晶模块检测、液晶面板检测及电浆电视面板瑕疵检测的中的任一种。

3.如权利要求1所述的判别内外层瑕疵的检测方法，提供至少一影像撷取装置的步骤后，更包括对所述的影像撷取装置进行初始化设定的步骤及使所述的影像撷取装置与所述的待测物体进行相对位置校正的步骤。

4.如权利要求1所述的判别内外层瑕疵的检测方法，其特征在于，所述的背光装置可为所述的待测物体所具有的主动光源。

5.如权利要求1所述的判别内外层瑕疵的检测方法，其特征在于，所述的影像撷取装置以线性移动扫描的方式，撷取所述的待测物体的影像。

6.如权利要求1所述的判别内外层瑕疵的检测方法，其特征在于，所述的表面照明装置提供一特定角度的斜向光，照射至所述的待测物体的表面。

7.一种判别内外层瑕疵的检测系统，其特征在于，所述的系统可针对具有多层结构的一待测物体进行瑕疵检测，所述的系统包括：

至少一背光装置，用以提供所述的待测物体一背光源；

至少一表面照明装置，用以提供所述的待测物体的表面照明；

至少一影像撷取装置，用于产生至少一幅所述的待测物体的总瑕疵影像及至少一幅所述的待测物体的表面瑕疵影像；以及

一计算机解析单元，电性连接于所述的影像撷取装置，用以分析所述的影像撷取装置产生的所述的待测物体的总瑕疵影像及表面瑕疵影像。

8.如权利要求7所述判别内外层瑕疵的检测系统，其特征在于，还包括一相对于所述的影像撷取装置的承载装置，用以承载所述的待测物体。

9.如权利要求7所述判别内外层瑕疵的检测系统，其特征在于，所述的背光装置可为下列任一种：冷阴极灯管、发光二极管以及荧光灯管。

10.如权利要求7所述判别内外层瑕疵的检测系统，其特征在于，所述的表面照明装置为一线性聚光照明装置。

11.如权利要求10所述判别内外层瑕疵的检测系统，其特征在于，所述的线性聚光照明装置提供所述的待测物体表面一特定角度的斜向照明光线。

12.如权利要求10所述判别内外层瑕疵的检测系统，其特征在于，所述的线性聚光照明装置可为下列任一种：卤素光源、金属卤素光源、发光二极管、激光二极管、非同调激光、偏振光源以及多波长光源。

13.如权利要求7所述判别内外层瑕疵的检测系统，其特征在于，所述的影像撷取装置更包括至少一线性影像感测器及一大视野光学透镜。

14.一种判别内外层瑕疵的检测系统，其特征在于，所述的系统可针对具有至少一主动光源的多层结构待测物体进行瑕疵检测，所述的系统包括：

至少一表面照明装置，以提供所述的待测物体表面照明；

至少一影像撷取装置，用于产生至少一幅所述的待测物体的总瑕疵影像及至少一幅所述的待测物体的表面瑕疵影像；以及

一计算机解析单元，电性连接于所述的影像撷取装置，用以分析所述的影像撷取装置产生的所述的待测物体的总瑕疵影像及表面瑕疵影像。