[发明专利]一种判别内外层瑕疵的检测方法与系统

说明书

技术领域

本发明关于一种判别内外层瑕疵的检测方法与系统，特别指一种运用至少二光源检测一具有多层结构的待测物体，透过影像辨识而判别该待测物体的内外层瑕疵的方法与系统。

背景技术

薄型显示器在现今社会中的运用，已十分普遍，大至户外电视墙、液晶电视、电浆电视、计算机的显示屏幕，小至手机屏幕、PDA的显示器以及MP3的显示屏幕等，日常生活中，几乎随处可见此种显示器的踪迹。

薄型显示器的成品，由显示材料、玻璃基材及背光模块等所多种材料及结构贴合而成，制造薄型液晶显示装置的制造工艺非常复杂，通常可概分为三个阶段，依序为阵列制造工艺(array process)、面板组装制造工艺(cellprocess)以及模块组装制造工艺(module assembly process)。简单来说，阵列制造工艺会在一玻璃机板上形成一薄膜晶体管阵列。面板制造工艺是将一彩色滤光片基板与阵列制造工艺所完成的薄膜晶体管基板贴合，并于其内灌入液晶材料。而模块组装制造工艺而是将面板组装制造工艺所完成的面板模块与其它如背光模块(backlight module)、驱动电路以及外框等多种零件进行组装。由于薄型液晶显示装置是一项极精密的高科技产业，而且制造厂商的资本投资庞大，因此，对于产品的良率非常重视，所以，在目前大部分的制造工艺中，皆已具有一定的标准制造工艺及制造工艺中对半成品的各项检测工作，但是，仍难避免各种瑕疵的发生。

对于薄型显示器而言，视觉瑕疵的种类繁多，一般可依据瑕疵的面积与形状分为三类，包括点缺陷、线缺陷及面缺陷。无论何种瑕疵，就目前生产厂商的检测技术而言，均已可利用各种检测仪器或是检测方法，轻易发现瑕疵所在的位置及其形状。

但是，现行的各种检测技术，难以正确判断瑕疵发生在薄型显示器的内层背光模块、玻璃基材结构上或是外层的显示材料上，因而，厂商往往无法进行适当的处理与修补，使得有瑕疵的薄型显示器沦为次级品销售或予以作废，影响生产厂商的良率，亦造成生产成本提高。

因此，针对于薄型显示器的视觉瑕疵，有必要提出一种简单又精准的方法与装置，除了可发现瑕疵所在的位置及其形状外，更可适当判别瑕疵发生在内层结构上或是外层结构上，方便制造厂商，对产品进行有效的进行处理与修补，以达成提升良率及降低成本的目的。

发明内容

本发明的主要目的，在于提供一种判别内外层瑕疵的检测方法与系统，特别是指一种运用至少二光源检测具多层结构的待测物体及影像辨识，发现待测物体瑕疵位置，并准确判别该待测物体的内外层瑕疵的方法与系统。利用简单的检测方法与检测系统，可正确而快速的判断待测物体内外层瑕疵的效果，以有效解决目前现有的各种检测技术，难以判断瑕疵发生于待测物体的内层背光模块、玻璃基材结构上或是外层的显示材料上的问题。

本发明的一种判别内外层瑕疵的检测方法，其步骤包括将具有多层结构的一待测物体，设置于一承载装置上，并提供待测物体一背光装置；继而，提供相对应于承载装置的一影像撷取装置，并对影像撷取装置进行初始化设定及待测物体的相对位置校正之后，开启背光装置，利用影像撷取装置以线性移动扫描的方式，撷取待测物体的影像，取得待测物体至少一总瑕疵影像；然后，提供待测物体一表面照明装置，该表面照明装置将提供一特定角度的斜向光，照射至待测物体的表面，再利用影像撷取装置以线性移动扫描的方式，取得待测物体一表面瑕疵影像；最后，通过一计算机解析单元，分析总瑕疵影像及表面瑕疵影像；以及将总瑕疵影像扣除表面瑕疵影像，所得即为待测物体的内层瑕疵影像。

本发明的一种判别内外层瑕疵的检测系统包括至少一背光装置、至少一表面照明装置、至少一影像撷取装置、一相对于影像撷取装置的承载装置、一支撑物以及一计算机解析单元；背光装置用以提供待测物体一背光源；表面照明装置，为一线性聚光照明装置，可提供待测物体一特定角度的斜向照明光线，以对待测物体进行表面照明；影像撷取装置更包括至少一线性影像感测器及一大视野光学透镜，用于产生待测物体的总瑕疵影像及表面瑕疵影像；承载装置用以承载该待测物体；而支撑物用以使架设影像撷取装置，并使其可以进行线性平移的动作；计算机解析单元电性连接于影像撷取装置，用以分析其所产生的待测物体的总瑕疵影像及表面瑕疵影像，获得待测物体的内层瑕疵影像。

此方法与系统，可应用于具有多层结构的背光模块检测、液晶模块检测、液晶面板检测以及电浆电视面板的瑕疵检测等的组合中的任何一种。

关于本发明的优点与精神，可通过以下的发明详述及所附图式得到进一步的了解，然而所附图式，仅供参考与说明，非以对本发明加以限制。