[发明专利]检测与校正缺陷像素的方法及装置无效
申请号: | 200710160817.5 | 申请日: | 2007-12-18 |
公开(公告)号: | CN101365050A | 公开(公告)日: | 2009-02-11 |
发明(设计)人: | 高长荣 | 申请(专利权)人: | 联发科技股份有限公司 |
主分类号: | H04N5/14 | 分类号: | H04N5/14;H04N9/64 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人: | 任默闻 |
地址: | 台湾省新竹*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检测 校正 缺陷 像素 方法 装置 | ||
1.一种检测及校正缺陷像素的装置,所述的检测及校正缺陷像素的装置包含:
缺陷像素检测单元,获取检测像素以及多个相邻像素,当满足第一条件及第二条件时确定上述检测像素为缺陷像素;及
缺陷像素校正单元,校正由上述缺陷像素检测单元确定的上述缺陷像素的数值;
其中,上述缺陷像素位于包含上述检测像素及上述多个相邻像素的n×n区块的中心,上述第一条件描述为最多检测到一个相邻像素的值距离检测像素的值在预设阈值范围内,以及上述第二条件描述为除了上述检测出的相邻像素之外,所有其余的相邻像素的数值小于或大于上述检测像素的数值。
2.如权利要求1所述的检测及校正缺陷像素的装置,其特征在于,当上述第一条件、上述第二条件及第三条件满足时,上述缺陷像素单元更确定上述检测像素为缺陷像素,其中上述第三条件描述为上述检测像素是位于平滑区域。
3.如权利要求2所述的检测及校正缺陷像素的装置,其特征在于,上述检测像素位于平滑区域是根据检验上述检测像素的数值是否与上述多个相邻像素的数值相似而确定的。
4.如权利要求3所述的检测及校正缺陷像素的装置,其特征在于,上述检测像素是绿色像素,上述缺陷像素检测单元更获取邻近上述检测像素的多个红色像素的红色数值以及获取邻近上述检测像素的多个蓝色像素的蓝色数值,计算上述多个获取的红色数值的差异作为第一差值,计算上述多个获取的蓝色数值的差异作为第二差值,以及当上述第一差值与第二差值的最大值小于预设阈值时,确定上述第三条件满足。
5.如权利要求3所述的检测及校正缺陷像素的装置,其特征在于,上述检测像素是绿色像素,上述缺陷像素单元更根据下面第一公式计算邻近上述检测像素的红色像素的两个红色数值的第一差值:
Diff1=abs(R1-R2),其中R1与R2表示上述红色数值,以及上述第一差值Diff1是R1与R2之间差异的绝对值,上述缺陷像素检测单元更根据下面第二公式计算邻近上述检测像素的蓝色像素的两个蓝色数值的第二差值:
Diff2=abs(B1-B2),其中B1与B2表示上述蓝色数值,以及上述第二差值Diff2是B1与B2之间差异的绝对值,当上述计算第一差值与第二差值的最大值小于预设阈值时,上述缺陷像素检测单元更确定上述第三条件满足。
6.如权利要求3所述的检测及校正缺陷像素的装置,其特征在于,上述检测像素是红色像素或蓝色像素,上述缺陷像素检测单元更获取邻近上述检测像素的多个绿色像素的绿色数值,确定上述多个获取的绿色数值的最小值,确定上述多个获取的绿色数值的最大值,以及当上述最大值减去上述最小值小于预设阈值时,确定满足上述第三条件。
7.如权利要求1所述的检测及校正缺陷像素的装置,其特征在于,当上述第一条件、上述第二条件及第三条件满足时,上述缺陷像素检测单元更确定上述缺陷像素为缺陷像素,其中上述第三条件描述为上述检测像素的数值在可接受范围之外,上述可接受范围是与上述检测像素同样颜色的相邻像素的数值。
8.如权利要求7所述的检测及校正缺陷像素的装置,其特征在于,上述检测像素是绿色像素。
9.如权利要求7所述的检测及校正缺陷像素之装置,其特征在于,上述相邻像素被分组成第一组与第二组,上述第一组的相邻像素距离上述检测像素较近,第二组的相邻像素距离上述检测像素较远,上述缺陷像素单元更计算上述第一组的相邻像素的第一平均值,计算上述第二组的相邻像素的第二平均值,计算上述第一平均值与上述第二平均值的差值,以及根据计算上述第一平均值与上述第一与第二平均值的差值计算出上述可接受范围的上边界与下边界。
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