[发明专利]检测与校正缺陷像素的方法及装置

说明书

技术领域

本发明有关于图像处理，更具体说，是有关图像中缺陷像素的确定和校正的方法以及相关装置。

背景技术

照相机系统中大量运用了图像传感器，对于图像传感器来说，一个较重要的特性是画质(cosmetic quality)，传感器的图像必须是理想而无瑕疵的。然而，由于处理上的不完美、统计上的偏差等原因，会造成在传感器阵列中一定数量的像素会有缺陷或者产生一个信号，这个信号和准确的像素值的偏差可用肉眼辨别出。

因此，有必要为确定和校正图像中的缺陷像素提供相关方法及装置。

发明内容

本发明提供相应的可对图像中的缺陷像素进行检测及校正的操作。

本发明的一目的是提供一种检测及校正缺陷像素的装置。上述装置包含：缺陷像素检测单元获取检测像素以及多个相邻像素，当第一条件及第二条件满足时确定上述检测像素为缺陷像素；及缺陷像素校正单元校正由缺陷像素检测单元确定的缺陷像素的数值，其中缺陷像素位于包含检测像素及相邻像素的n×n区块的中心，第一条件描述为最多检测到一个相邻像素的值距离检测像素的值在预设阈值范围内，以及第二条件描述为除了检测出的相邻像素之外，其余所有相邻像素的数值小于或大于检测像素的数值。

本发明的另一目的是提供一种检测及校正缺陷像素的方法。上述方法包含：获取检测像素及多个相邻像素；当第一条件及第二条件满足时确定上述检测像素为缺陷像素；以及校正缺陷像素的数值，其中上述缺陷像素位于包含检测像素及相邻像素的n×n区块的中心，第一条件描述为最多检测到一个相邻像素的值距离检测像素的值在预设阈值范围内，以及第二条件描述为除了检测出的相邻像素之外，其余所有相邻像素的数值小于或大于检测像素的数值。

本发明根据上述方法及装置检测及校正图像中的缺陷像素来获取更佳图像。

附图说明

图1是本发明实施方式的图像处理流程的示意图。

图2A是拜耳格式图像的5x5阵列的示意图。

图2B-图2D是拜耳格式图像的5x5阵列的采样窗口的示意图。

图3是根据本发明的缺陷像素检测及校正单元的实施方式的示意图。

图4是根据本发明的缺陷像素检测及校正方法的实施方式的流程图。

图5A-图5B是根据本发明在满足第一条件与第二条件时像素值的数据分布的示意图。

图6A是根据本发明确定是否满足第三条件的实施方式的流程图。

图6B-图6C是根据本发明用来确定是否满足第三条件的5x5阵列的相邻像素的示意图。

图6D是根据本发明确定是否满足第三条件的方法实施方式的流程图。

图7A是根据本发明确定是否满足第四条件的方法实施方式的流程图。

图7B是根据本发明用来确定是否满足第四条件的5x5样本阵列的相邻像素的示意图。

图8是根据本发明为检测及校正G像素的方法实施方式的流程图。

图9是根据本发明对G像素执行缺陷像素检测及校正方法的实施方式的流程图。

图10是根据本发明对G像素执行缺陷像素检测及校正方法的实施方式的流程图。

图11是根据本发明对G像素执行缺陷像素检测及校正的方法实施方式的流程图。

图12是根据本发明对R像素或B像素执行缺陷像素检测及校正的方法实施方式的流程图。

图13是根据本发明对R像素或B像素执行缺陷像素检测及校正的方法实施方式的流程图。

具体实施方式

下面描述的是本发明的较佳实施方式，其目的是使本发明更好地被理解，而并非限制本发明。本发明的保护范围由权利要求范围所界定。

下面将参照图1到图13描述本发明。本发明大体上是关于缺陷像素的检测及校正。在接下来的详细描述中，介绍具体实施方式时，请参照附图。详细描述实施方式使得本领域的技术人员应可实施本发明，并明白在不脱离本发明的精神和范围下，可以实现其它的实施方式或更改结构、逻辑及电气连接。以下的详细描述不是限制本发明，应了解，在说明书中描述揭示的许多组件本身是具有功能的，也可被实现于一个或多个实体中，或者实现于不同于说明书描述的形式中。