[发明专利]光盘装置有效
申请号: | 200710161607.8 | 申请日: | 2007-09-27 |
公开(公告)号: | CN101154401A | 公开(公告)日: | 2008-04-02 |
发明(设计)人: | 清水真弥;紫原哲也;永座强 | 申请(专利权)人: | 船井电机株式会社 |
主分类号: | G11B7/09 | 分类号: | G11B7/09;G11B7/135 |
代理公司: | 隆天国际知识产权代理有限公司 | 代理人: | 王玉双 |
地址: | 日本大阪*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光盘 装置 | ||
1.一种光盘装置,具有:
光源,其用于照射激光;
物镜,其使所照射的激光会聚并聚光至相对的光盘的记录面上;
像差修正部,其对在光源和物镜之间设置的液晶元件提供驱动信号,来驱动该液晶元件,以修正在激光的聚光点附近产生的像差;
分割检测器,其通过被分割成多个的受光区域接收来自光盘的反射光,并且,将在各个区域中接收到的光转换成电信号而输出;
伺服信号生成部,其基于来自分割检测器的电信号而生成并输出聚焦误差信号FE和循迹误差信号TE;
伺服控制部,其基于所输入的FE而生成聚焦驱动信号,并且,基于所输入的TE而生成循迹驱动信号;
致动器,其基于所输入的聚焦驱动信号以及循迹驱动信号而使物镜分别在聚焦方向和循迹方向上驱动,从而使聚光点追踪光盘的轨道,其特征在于,
该光盘装置还具有双折射检测部,该双折射检测部,输入上述FE,通过检测出FE波形的非对称性来获取上述记录面的双折射程度,并根据该双折射程度而生成并输出用于修正球面像差的球面像差修正信号,其中,该FE波形的非对称性是由FE的最大值和预定标准电位之间的电位差与该标准电位和FE的最小值之间的电位差的差值所表示的;并且,输入上述TE,通过检测出TE波形的非对称性来获取上述记录面的双折射程度,并根据该双折射程度生成并输出用于修正彗形像差的彗形像差修正信号,其中,该TE波形的非对称性是由TE的最大值和上述预定标准电位之间的电位差与上述标准电位和TE的最小值之间的电位差的差值所表示的;
上述像差修正部,基于球面像差修正信号来驱动液晶元件中的预定电极图形,从而使液晶的取向状态发生变化,而对球面像差进行修正;并且,基于彗形像差修正信号来驱动液晶元件中的预定电极图形,从而使液晶的取向状态发生变化,而对彗形像差进行修正,
上述分割检测器具有对应于光盘的循迹方向和光盘的旋转方向而分割的4个受光区域;
上述伺服信号生成部,在使用由分割检测器的各个受光区域输出的各个电信号Ia、Ib、Ic、Id、聚焦平衡参数FB1、FB2、聚焦偏移参数FO、循迹平衡参数TB1、TB2、循迹偏移参数TO并根据下述公式来生成FE和TE之际,通过参照规定了球面像差修正信号和FB1、FB2、FO的各个值之间的对应关系以及彗形像差修正信号和TB1、TB2、TO的各个值之间的对应关系的参数决定表,从而决定与球面像差修正信号和彗形像差修正信号分别相应的参数值,
FE=FB1(Ia+Ic)-FB2(Ib+Id)+FO;
TE=TB1(Ia+Id)-TB2(Ib+Ic)+TO;
其中,Ia+Id和Ib+Ic表示经由对应于上述旋转方向而相邻的受光区域所输出的电信号的和,并且,Ia+Id表示经由上述循迹方向中与接近光盘中心一侧对应的受光区域所输出的电信号的和,此外,Ia+Ic和Ib+Id表示经由处于对角关系的受光区域所输出的电信号的和。
2.一种光盘装置,具有:
像差修正部,其对在使用物镜而使激光聚光在光盘记录面上时所产生的像差进行修正;
伺服信号生成部,其基于来自光盘的反射光而生成并输出伺服信号;
伺服控制部,其输入伺服信号,并基于伺服信号来控制物镜的驱动,从而使聚光点追踪光盘的轨道,其特征在于,
该光盘装置还具有双折射检测部,该双折射检测部,输入上述伺服信号,并且基于伺服信号而检测出上述记录面中的双折射程度,生成并输出与所检测出的双折射程度相应的、用于像差修正的修正信号,
上述像差修正部,输入上述修正信号,并基于修正信号来驱动预定的像差修正元件,从而执行像差修正,
上述伺服信号生成部,在使用与来自光盘的反射光相应的电信号和预定参数来生成上述伺服信号之际,根据上述像差修正的程度来决定参数值。
3.如权利要求2所述的光盘装置,其特征在于,
上述双折射检测部检测出以预定标准电位为基准的伺服信号波形的非对称性,并将该非对称性的大小作为双折射的程度。
4.如权利要求2或3所述的光盘装置,其特征在于,
上述双折射检测部从伺服信号中提取出直流成分,并检测出该直流成分与预定标准电位之间的电位差,并将该电位差的大小作为双折射的程度。
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