[发明专利]光盘装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种光盘装置。

背景技术

在日本特开2002-342952号专利文献中揭示了一种记录再现装置，该记录再现装置是光学式记录介质的记录再现装置，具有像差修正、聚焦伺服(focus servo)、循迹伺服(tracking servo)等的控制部。

另外，在日本特开2005-332558号专利文献中则揭示了一种光盘装置，该光盘装置具备：对光束中产生的球面像差进行预先修正的球面像差控制部；对聚焦误差信号进行检测的聚焦误差检测部；在由球面像差控制部使球面像差量与预定量一致之后，以使聚焦误差检测部的信号振幅成为预定值的方式进行调整的控制器。

在作为光盘装置的再现·记录对象的光盘记录面上，有时候会存在所谓双折射的情况。双折射是由光盘制造时产生的内部应力等而导致的。在存在双折射的情况下，激光会聚在光盘记录面上时的聚光点形状发生变形或者聚光点变大，其结果是，导致光盘装置所检测的反射光量减少，或者发生不合适的变化。上述反射光量减少和变化使基于反射光生成的再现信号、伺服信号劣化，其结果是，导致执行聚光点对记录面轨道的追踪的所谓伺服控制非常不稳定。

但是，在上述专利文献中并没有针对由该双折射所引起的再现信号和伺服信号的劣化给出解决方法。

发明内容

本发明提供一种防止由光盘中产生的双折射所引起的再现信号和伺服信号的劣化、并提高了伺服控制和再现信号质量的光盘装置。

本发明提供一种光盘装置，其具有：像差修正部，其对在用物镜使激光会聚在光盘的记录面上时在记录面上产生的像差进行修正；伺服信号生成部，其基于来自光盘的反射光而生成并输出伺服信号；伺服控制部，其输入伺服信号，基于伺服信号控制物镜的驱动，从而使聚光点追踪光盘轨道。该光盘装置还具有双折射检测部。双折射检测部输入有来自伺服信号生成部的伺服信号。也就是说，伺服信号生成部对伺服控制部和双折射检测部双方都进行了伺服信号的输出。双折射检测部基于伺服信号检测出上述记录面中的双折射程度，生成并输出与所检测出的双折射程度相应的用于像差修正的修正信号。像差修正部输入修正信号，基于修正信号来驱动预定的像差修正元件，从而执行像差修正。在光盘记录面中存在双折射时，聚光点形状发生变形或聚光点变大，由于可将上述这样的聚光点形状变化当作像差处理，并可对其进行把握，在本发明中，可以在检测出双折射程度，并根据检测出的程度来进行像差修正。

当对由双折射所引起的像差进行了修正时，伺服信号生成部接收的上述反射光接近正常量，其结果是，转换反射光所得到的电信号值也与像差修正前相比发生了变化。这里，在使用上述电信号和预定参数计算出伺服信号之际，如果继续沿用在像差修正前所设定的参数值，那么就无法计算出对于由伺服控制部进行的伺服控制来说最佳的伺服信号。也就是说，在进行了上述像差修正的情况下，根据像差修正量，伺服信号生成时所使用的各个参数值也需要进行改变。因此，伺服信号生成部在使用与来自光盘反射光相应的电信号以及预定参数而生成上述伺服信号之际，根据上述像差修正的程度来决定参数值。

根据如上所述的本发明，由于因光盘的双折射引起而生成的像差被修正了，所以能够避免由双折射所导致的伺服信号和再现信号的劣化。而且，在基于像差修正后的反射光和各种参数而生成伺服信号之际，由于选择与像差修正量相应的最佳的参数值，所以总是能够让上述追踪动作合适化，并能执行稳定的伺服控制。

双折射的检测方法可以采用各种方法。举一个例子如下：双折射检测部检测出以预定基准电位为标准的伺服信号波形的非对称性，并将该非对称性的大小作为双折射的程度。伺服信号是表示聚光点相对于光盘轨道的偏差的信号，可以说该信号波形的非对称性的大小大致上可表示聚光点附近双折射的程度。因此，通过按照本发明所示那样的方式检测伺服信号波形的非对称性，从而可以间接检测出光盘具有的双折射程度。

除了上述检测方法之外，或者说可用来替代上述方法的，还有一种双折射检测部，从伺服信号中提取出直流成分，并检测出该直流成分和预定标准电位之间的电位差，该电位差的大小也可视为双折射程度。在伺服信号直流成分和上述标准电位的差为某个值以上时，称为伺服信号波形发生了混乱，该混乱可大体反映出光盘中存在双折射。因此，通过比较伺服信号直流成分和标准电位，从而可以间接检测出光盘具有的双折射程度。