[发明专利]采样电路与采样方法

权利要求书

1.一种采样电路，用来采样输入数据以得到输出数据，该采样电路包括：

延迟控制单元，用来将采样信号延迟第一延迟量以产生第一延迟信号，并延迟第二延迟量以产生第二延迟信号；

第一采样单元，耦接该延迟控制单元，用来依据该第一延迟信号来采样输入数据，以得到第一采样值，该第一采样单元用来产生该输出数据；

第二采样单元，耦接该延迟控制单元，用来依据该第二延迟信号来采样该输入数据，以得到第二采样值；以及

处理单元，耦接该延迟控制单元与该第一、第二采样单元，用来根据该第一、第二采样值，控制该延迟控制单元至少调整该第一延迟量，以校正该第一延迟信号。

2.如权利要求1所述的采样电路，其中当该采样电路进入测试模式时，该延迟控制单元依据测试结果来设定该第一延迟量，并在该第一延迟量完成设定之后决定该第二延迟量；并且，该采样电路在正常操作模式下采样该输入数据以得到该输出数据。

3.如权利要求1所述的采样电路，其中该处理单元包括计数器，用来计数检测该第一、第二采样值相异时的相异次数，当该相异次数大于临界值时，该处理单元同时增加或者同时减少该第一、第二延迟量，直到该第一、第二采样值相同为止。

4.如权利要求1所述的采样电路，其还包括：

第三采样电路，耦接该延迟控制单元，用来依据第三延迟信号来采样该输入数据以得到第三采样值；

其中，该延迟控制单元将该采样信号延迟第三延迟量以产生该第三延迟信号，以及该处理单元根据该第一、第二与第三采样值来控制该延迟控制单元至少调整该第一延迟量；

并且，当该采样电路进入测试模式时，该延迟控制单元依据测试结果设定该第一延迟量，接着设定小于该第一延迟量的该第二延迟量、并设定大于该第一延迟量的该第三延迟量，而该第一、第二延迟量之间的第一差值等于该第一、第三延迟量之间的第二差值；并且，该采样电路在正常操作模式下采样该输入数据，以得到该输出数据。

5.如权利要求4所述的采样电路，其中该处理单元若检测到该第一、第二采样值相同而该第三采样值相异于该第一采样值，则减少该第一、第二、第三延迟量，直到该第一、第二、第三采样值皆相同为止；若检测到该第一、第三采样值相同而该第二采样值相异于该第一采样值，则增加该第一、第二、第三延迟量，直到该第一、第二、第三采样值皆相同为止；若检测到该第二、第三采样值皆与该第一采样值相异，则缩小该第一、第二差值，直到该第二、第三采样值其中之一与该第一采样值相同为止；并且，该处理单元还包括计数器，用来计数检测到该第一、第二、第三采样值中的一个采样值与另两个采样值相异时的相异次数，当该相异次数大于临界值时，该处理单元才增加或减少该第一、第二、第三延迟量或缩小该第一、第二差值。

6.一种采样方法，用来采样输入数据以得到输出数据，该采样方法包括：

将采样信号延迟第一延迟量，以产生第一延迟信号；

将该采样信号延迟第二延迟量，以产生第二延迟信号；

依据该第一延迟信号来采样输入数据，以得到第一采样值，该第一采样单元用来产生该输出数据；

依据该第二延迟信号来采样该输入数据，以得到第二采样值；

根据该第一、第二采样值来至少调整该第延迟量，以校正该第一延迟信号。

7.如权利要求6所述的采样方法，还包括：

在测试模式下，依据测试结果来设定该第一延迟量，并于该第一延迟量完成设定之后决定该第二延迟量；并且，在正常操作模式下，采样该输入数据以得到该输出数据。

8.如权利要求6所述的采样方法，还包括：

计数检测该第一、第二采样值相异时的相异次数；

其中，当该相异次数大于临界值时，该处理单元才同时增加或者同时减少该第一、第二延迟量，直到该第一、第二采样值相同为止。