[发明专利]晶片自动测试分类机

权利要求书

1.一种晶片自动测试分类机，其特征在于：包含有：

供料匣：是供收纳承置有待测晶片的料盘；

收料匣：是依不同等级收纳承置有完测晶片的料盘；

测试装置：是设有探针及测试器，以对待测的晶片进行测试作业；

转运装置：包括有第一、二转运装置，所述的第一转运装置可移动在转运 区及测试装置间，以将待测晶片移载至测试装置内进行测试作业，并在完成测 试后将完测晶片移载至转运区，所述的第二转运装置可移动在另一转运区及所 述测试装置间，以将另一批次的待测晶片移载至所述测试装置内进行测试作业， 并在完成测试后将完测晶片移载至所述另一转运区，所述第一、二转运装置交 替移载待测及完测的晶片，以供进行分类收料作业；

取放装置：是设有取放器，以将供料匣的料盘上待测晶片取放在转运装置， 并将转运装置上的完测晶片分类取放在收料匣的料盘上；

中央处理器：是用以控制及整合各装置作动，以执行自动化作业。

2.根据权利要求1所述的晶片自动测试分类机，其特征在于：更包含设有 第一暂置区及供料区，而使供料匣上承置有待测晶片的料盘可推移至第一暂置 区及供料区，并在供料区进行供料作业。

3.根据权利要求1所述的晶片自动测试分类机，其特征在于：所述的收料 匣是包括有第一收料匣及第二收料匣，以依不同等级收纳承置有完测晶片的料 盘。

4.根据权利要求3所述的晶片自动测试分类机，其特征在于：所述的第一 收料匣及第二收料匣的后侧是分别设有第一收料区及第二收料区，以进行不同 等级的完测晶片的收料作业，并在料盘满载后，可将料盘移至第一收料匣或第 二收料匣内收纳。

5.根据权利要求1所述的晶片自动测试分类机，其特征在于：更包含设有 第一、二空匣，以供收纳空料盘及提供空料盘至收料匣。

6.根据权利要求5所述的晶片自动测试分类机，其特征在于：所述的第一、 二空匣的后侧是分别设有第二暂置区及第三暂置区，而使第一、二空匣上的空 料盘可经由第二暂置区或第三暂置区推移至收料匣。

7.根据权利要求1所述的晶片自动测试分类机，其特征在于：所述的测试 装置的探针是可升降作动，以接触待测晶片并进行测试作业。

8.根据权利要求1所述的晶片自动测试分类机，其特征在于：所述的第一、 二转运装置是设有真空吸嘴及可由驱动源驱动位移的推移件，以使晶片准确对 位于转运装置上。

9.根据权利要求1所述的晶片自动测试分类机，其特征在于：所述的取放 装置的取放器是可作三方向位移，以取放晶片。