[发明专利]半导体器件的制造方法无效

专利信息
申请号: 200710163792.4 申请日: 2007-11-08
公开(公告)号: CN101179036A 公开(公告)日: 2008-05-14
发明(设计)人: 町田洋弘;小林敏男 申请(专利权)人: 新光电气工业株式会社
主分类号: H01L21/60 分类号: H01L21/60
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 代理人: 顾红霞;张天舒
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 半导体器件 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种半导体器件的制造方法,包括:

第一步骤,其利用接合线在电极片上形成凸点,所述电极片形成在基板的与半导体芯片相对应的区域中;

第二步骤,其在堆叠于所述基板上的叠层用基板中形成导通孔,并且用导电膏填入所述导通孔,在所述叠层用基板的第一主表面上形成有导电层,所述导通孔从所述叠层用基板的第二主表面到达所述导电层;

第三步骤,其通过绝缘层将所述叠层用基板附着到所述基板上,并且通过所述导电膏连接所述导电层与所述凸点;以及

第四步骤,其将所述基板分割成单独的块,

其中,所述凸点穿透所述绝缘层。

2.根据权利要求1所述的半导体器件的制造方法,还包括如下步骤:

蚀刻所述导电层以便将所述导电层图案化。

3.根据权利要求1所述的半导体器件的制造方法,还包括如下步骤:

将所述导电层用作供电层,通过电解电镀法来进行图案电镀工序。

4.一种半导体器件的制造方法,包括:

第一步骤,其利用接合线在电极片上形成凸点,所述电极片形成在基板的与半导体芯片相对应的区域中;

第二步骤,其在堆叠于所述基板上的导电层上形成由导电膏制成的连接图案;

第三步骤,其通过绝缘层将所述导电层附着到所述基板上,并且通过所述连接图案连接所述导电层与所述凸点;以及

第四步骤,其将所述基板分割成单独的块,

其中,所述凸点穿透所述绝缘层。

5.根据权利要求4所述的半导体器件的制造方法,还包括如下步骤:

蚀刻所述导电层从而将所述导电层图案化。

6.根据权利要求4所述的半导体器件的制造方法,还包括如下步骤:

将所述导电层用作供电层,通过电解电镀法来进行图案电镀工序。

7.根据权利要求4所述的半导体器件的制造方法,其中,

将所述导电层堆叠在用于支撑所述导电层的支撑层上,并且通过所述绝缘层将所述导电层附着到所述基板上,并且

在将所述导电层附着到所述基板上之后,去除所述支撑层。

8.根据权利要求4所述的半导体器件的制造方法,其中,

堆叠在所述基板上的所述导电层是构成多层配线结构的导电层。

9.一种半导体器件的制造方法,包括:

第一步骤,其利用接合线在电极片上形成凸点,所述电极片形成在基板的与半导体芯片相对应的区域中;

第二步骤,其使所述凸点的末端部分与由导电膏制成的层接触,从而将所述导电膏转移到所述末端部分上;

第三步骤,其通过绝缘层将堆叠在所述基板上的导电层附着到所述基板上,并且通过所述导电膏连接所述导电层与所述凸点;以及

第四步骤,其将所述基板分割成单独的块,

其中,所述凸点穿透所述绝缘层。

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