[发明专利]状态检测装置及状态检测方法

权利要求书

1.一种状态检测装置，用以对多个待测电压进行检测，该状态检测装置包括：

一探针组，具有多个探针，用以探测该些待测电压；

一处理器，其具有多个I/O介面，且一个探针与一个I/O介面相连，该处理器用以监测该探针组所探测到的每一待测电压的电平变化，且记录每一待测电压的电平变化时间点，并判断每一待测电压是否为正常工作状态；

一显示模块，与该处理器相连，用以接收该处理器监测到的每一待测电压的电平变化信息及处理器对每一待测电压工作状态的判断结果，并显示出该些待测电压的时序信息及工作状态信息；以及

一输入模块，与该处理器相连，用于输入提供该些待测电压的设备的配置信息，以使该处理器根据监测到的该待测电压的电平变化与该输入模块输入的配置信息来比较判断该待测电压是否为正常工作状态。

2.如权利要求1所述的状态检测装置，其特征在于，该显示模块还包括：

一显示幕，用以显示各个待测电压电平变化的相对时序图及工作状态信息；

一驱动单元，连接于该显示幕，用以驱动该显示幕并使其显示各个待测电压电平变化的相对时序图及工作状态信息；以及

一显示控制单元，连接于该驱动单元，用以接收该处理器监测到的该待测电压的电平变化信息及处理器对该待测电压工作状态的判断结果，并通过该驱动单元使该显示幕显示出各个待测电压电平变化的相对时序图及工作状态信息。

3.如权利要求2所述的状态检测装置，其特征在于，该显示模块还包括一存储单元，用以存储各个待测电压的相对时序信息，以供后期分析。

4.如权利要求1所述的状态检测装置，其特征在于，该状态检测装置还包括一电位转换模块，该电位转换模块连接于该处理器与该探针组之间，用以对该探针组探测到的超出处理器测量范围的待测电压进行分压，以满足该处理器对电压测量的要求。

5.如权利要求1所述的状态检测装置，其特征在于，该状态检测装置还包括一保护模块，该保护模块连接于该处理器与该探针组之间，用于当该探针组中的一探针与该处理器一I/O介面间的电压过大时，切断该探针与该I/O介面间的路径。

6.如权利要求1所述的状态检测装置，其特征在于，该处理器为一单片机或一ARM微处理器。

7.一种状态检测方法，用以对多个待测电压进行检测，该状态检测方法包括以下步骤：

向状态检测装置输入设备的配置信息；

将该些待测电压接上探针并监测每一待测电压的电平变化；

根据监测到的上述每一待测电压的电平变化与该配置信息来比较判断该待测电压是否为正常工作状态；以及

若电平变化正常则显示出各个待测电压电平变化的时序信息，若电平变化错误则显示出各个待测电压电平变化的时序信息及错误发生的具体情况与时间。

8.如权利要求7所述的状态检测方法，其特征在于，在显示出各个待测电压的时序信息后存储该时序信息。

9.如权利要求7所述的状态检测方法，其特征在于，还包括：对超出测量范围的待测电压进行分压处理后再判断待测电压是否为正常工作状态。

10.如权利要求7所述的状态检测方法，其特征在于，还包括：当一被测电压过大时切断该被测电压所在路径。