[发明专利]状态检测装置及状态检测方法

说明书

技术领域

本发明是有关于一种电压测试工具，且特别是有关于一种可以同时测试多个电压信号的电压测试工具。

背景技术

在服务器硬件测试过程中，对于电压时序(PowerSequence)的检测通常包括采用测试仪器去改变电压的上电时间关系来看系统是否能承受允许范围内的误差，以及通过示波器去测量实际的电压时序，以检测其电压信号是否在规范之内。

中国台湾专利号为TW00564957的发明专利公开了一种主板电性测量治具，通过发光二极管(LED)来识别其线路的导通情形，再利用芯片组(CHIPSET)的保护二极管特性以及回路原理，透过主板电性测量治具，使直流电源，LED状态显示单元和待测主板依测量需要形成各种回路，后依LED的发光情形来判别其回路的开路/短路情形。同时，可将维修参考的各脚位一电气特性分类安排于面板上，以利于进一步的检修工作。

上述发明的主板电性测量治具依据发光二极管的发光情形来判别各个部件的工作状态，并不能直观地通过时序图反应出电压的时序变化，从而也不容易对不同回路的电压时序进行比对。并且上述发明的测量治具只适用于主板电性的测量，并不适用于其他设备的电压时序测试。

然而，直接通过示波器去测量设备实际的电压时序，检测状态是否在规范之内的这种常用的测试电压时序的方法，虽然采用示波器可以直观地看到电压时序图，且对不同时序的电压进行比对较为容易，但是若需要测试的电压数量较多，则采用示波器实现测试较为麻烦，因为示波器只具有四个频率显示，所以需要分别测量每对或者某几个电压间的关系才能完整反映整个上/下电的时序关系，因此其测试效率较低。

发明内容

本发明提供一种状态检测装置，以解决现有测试技术无法同时测试多个电压及直观显示电压变化情况的技术缺陷。

本发明提供一种状态检测方法，以解决现有测试技术无法同时测试多个电压及直观显示电压变化情况的技术缺陷。

本发明提出一种状态检测装置，用以对多个待测电压进行检测，此状态检测装置包括探针组、处理器、显示模块以及输入模块。探针组具有多个探针，用以探测待测电压。处理器具有多个I/O介面，且一个探针与一个I/O介面相连，此处理器用以监测探针组所探测到的每一待测电压的电平变化，且记录每一待测电压的电平变化时间点，并判断每一待测电压是否为正常工作状态。显示模块与处理器相连，用以接收处理器监测到的每一待测电压的电平变化信息及处理器对每一待测电压工作状态的判断结果，并显示出待测电压的时序信息及工作状态信息。输入模块与处理器相连，用于输入提供待测电压的设备的配置信息，以使处理器根据监测到的待测电压的电平变化与输入模块输入的配置信息来比较判断待测电压是否为正常工作状态。

依照本发明的较佳实施例所述状态检测装置，上述的显示模块还包括显示幕、驱动单元以及显示控制单元。显示幕用以显示各个待测电压电平变化的相对时序图及工作状态信息。驱动单元连接于显示幕，用以驱动显示幕并使其显示各个待测电压电平变化的相对时序图及工作状态信息。显示控制单元连接于驱动单元，用以接收处理器监测到的待测电压的电平变化信息及处理器对待测电压工作状态的判断结果，并通过驱动单元使显示幕显示出各个待测电压电平变化的相对时序图及工作状态信息。显示模块还包括存储单元，用以存储各个待测电压的相对时序信息，以供后期分析。此状态检测装置还包括电位转换模块，电位转换模块连接于处理器与探针组之间，用以对探针组探测到的超出处理器测量范围的待测电压进行分压，以满足处理器对电压测量的要求。此状态检测装置还包括保护模块，保护模块连接于处理器与探针组之间，用于当探针组中的探针与处理器I/O介面间的电压过大时，切断探针与I/O介面间的路径。处理器为单片机或ARM微处理器。

本发明还提出一种状态检测方法，用以对多个待测电压进行检测，此状态检测方法包括以下步骤：首先，向状态检测装置输入待测设备的配置信息，将待测电压接上探针并监测每一待测电压的电平变化。其次，根据监测到的每一待测电压的电平变化与配置信息来比较判断待测电压是否为正常工作状态。然后，若电平变化正常则显示出各个待测电压电平变化的时序信息，若电平变化错误则显示出各个待测电压电平变化的时序信息及错误发生的具体情况与时间。

本发明因采用状态检测装置，因此可以同时对多个待测电压进行检测。并且可以显示出各个待测电压的电平变化相对时序图及工作状态信息，无须如示波器那样受测试数量的限制，提高了测试效率及减小了测试工具的工作量。

为让本发明的上述和其他目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合附图作详细说明如下。