[发明专利]一种用户接口厚膜电路测试装置及方法

权利要求书

1.一种用户接口厚膜电路测试装置，其特征在于，包括：

主控单元，用于在接收到用户接口厚膜电路测试指令后控制通道切换单元、负载单元和信号发生及测试单元；

通道切换单元，用于在该主控单元的控制下将被测用户接口厚膜电路的用户侧线切换到与该用户接口厚膜电路测试指令对应的测试通道；

负载单元，用于在该主控单元的控制下为与该用户接口厚膜电路测试指令对应的测试通道提供测试负载；

信号发生及测试单元，用于在该主控单元的控制下根据所述测试通道和测试负载对被测用户接口厚膜电路进行测试。

2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述用户接口厚膜电路测试指令包括：静态参数测试指令、功能测试指令和/或动态性能测试指令；

所述静态参数测试指令包括：馈电参数测试指令；

所述功能测试指令包括：摘/挂机功能测试指令；

所述动态性能测试指令包括：用户厚膜电路上/下行语音通路拨号/收号功能和用户接口厚膜电路上/下行增益调整指标测试。

3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述测试通道包括：静态参数测试通道和/或功能及动态性能测试通道；所述功能及动态性能测试通道进一步包括：摘机测试通道和挂机测试通道。

4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，所述信号发生及测试单元进一步包括：

第一信号发生及测试单元，位于被测用户接口厚膜电路的交换机侧，用于在主控单元的控制下根据测试通道和测试负载测试上行方向被测用户接口厚膜电路；

第二信号发生及测试单元，位于被测用户接口厚膜电路的用户侧，用于在主控单元控制下根据测试通道和测试负载测试下行方向被测用户接口厚膜电路。

5.根据权利要求4所述的测试装置，其特征在于，所述负载单元包括：

可调精密电阻器，用于与静态参数测试通道相连，并向第二信号发生及测试单元提供静态参数测试负载；

恒流负载，用于与摘机测试通道相连，并向所述第一信号发生及测试单元和/或第二语音信号发生及测试单元提供功能测试和动态性能测试负载。

6.根据权利要求4或5所述的测试装置，其特征在于，所述第一信号发生及测试单元进一步包括：

第一数字信号处理器，用于在主控单元的控制下根据动态性能测试指令或功能测试指令检测被测用户接口厚膜电路的上行方向测试信号，和/或根据动态性能测试指令产生下行方向测试信号，并将其发送至被测用户接口厚膜电路；

第一测试通道接口电路，用于连接第一数字信号处理器和测试通道；

第一通讯接口电路，用于连接第一数字信号处理器和主控单元，并向主控单元上报第一数字信号处理器所检测的上行方向测试信号；

所述第二信号发生及测试单元进一步包括：

第二数字信号处理器，用于在主控单元的控制下根据静态参数测试指令检测被测用户接口厚膜电路的静态参数测试信号和/或根据功能测试或动态性能测试指令检测通过被测用户接口厚膜电路的下行方向测试信号和/或根据功能测试或动态性能测试指令产生上行方向测试信号，并将其发送至被测用户接口厚膜电路；

第二测试通道接口电路，用于连接第二数字信号处理器和测试通道；

第二通讯接口电路，用于连接第二数字信号处理器和主控单元，并向主控单元上报第二数字信号处理器所检测的静态参数测试信号和/或下行方向测试信号。

7.根据权利要求6所述的测试装置，其特征在于，所述第一测试通道接口电路包括：第一上行方向功能及动态性能测试通道接口电路和第一下行方向功能及动态性能测试通道接口电路；

所述第二测试通道接口电路包括：静态参数测试通道接口电路、第二上行功能及动态性能测试通道接口电路和第二下功能及行方向动态性能测试通道接口电路。

8.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，进一步包括：

夹具，用于连接所述测试装置和用户接口厚膜电路。