[发明专利]一种用户接口厚膜电路测试装置及方法

说明书

技术领域

本发明涉及电子通信技术领域，尤其涉及一种用户接口厚膜电路测试装置及方法。

背景技术

在程控数字交换机中，SLIC(Subscriber Line Interface Circuit，用户接口电路)是用于实现用户线与交换网络之间的连接。其可以分为两类：模拟用户接口电路和数字用户接口电路。模拟用户接口电路是为了适应模拟用户环境而配置的，而数字用户接口电路是为了适应数字用户环境而设置的。本发明以下提及的用户接口电路为模拟用户接口电路。

目前程控数字交换机用户接口电路广泛采用厚膜电路形式。厚膜电路是集成电路的一种，是指将电阻、电感、电容、半导体元件和互连导线通过印刷、烧成和焊接等工序，在基板上制成的具有一定功能的电路单元。

用户接口厚膜电路的基本功能包括：

(1)调整交换机至电话用户终端方向的模拟信号增益；

(2)调整电话用户终端至交换机方向的模拟信号增益；

(3)向电话用户终端提供恒流馈电；

(4)检测电话用户终端的摘挂机状态。

由于厚膜电路加工工艺和成本的限制，厚膜电路的合格率一直是电子通信技术领域十分关注的问题，可以设置测试系统对厚膜电路进行测试以判断厚膜电路合格与否。所述测试系统的功能主要包括厚膜电路静态参数测试、功能测试和动态性能测试三部分，所述静态参数包括馈电参数等，所述功能包括摘挂机功能，所述动态性能主要包括：用户厚膜电路上/下行语音通路DTMF(Double Tone MultiFrequency，双音多频信号)拨号/收号功能和用户接口厚膜电路上/下行增益调整指标。

中国专利CN91210479提供了厚膜混合集成电路测试装置。该装置采用直流电压方式，提供一个稳定的直流电压、一个可调稳定直流电流以及一个可调负载电阻，通过分别独立的插座，加在被测厚膜混合集成电路的相应引出端进行静态测试。该现有技术提供的测试装置，只能对用户接口厚膜电路的静态特性进行测试，对于动态性能如电路的功能实现及信号增益调整等指标无法测试。

另一种现有技术采用信号发生器及示波器等设备来进行用户接口厚膜电路信号增益调整指标等动态性能的测量，但该技术无法实现自动化测试，测试效率较低。

综上可知，现有的用户接口厚膜电路测试技术，在实际使用上显然存在不便与缺陷，所以有必要加以改进。

发明内容

针对上述的缺陷，本发明的第一目的在于提供一种用户接口厚膜电路测试装置，该装置可以自动化测试用户接口厚膜电路的静态参数、功能和动态性能，并且测试效率高。

本发明的第二目的在于提供一种用户接口厚膜电路测试方法，该方法可以自动化测试用户接口厚膜电路的静态参数、功能和动态性能，并且测试效率高。

为了实现上述第一目的，本发明提供一种用户接口厚膜电路测试装置，包括：

主控单元，用于在接收到用户接口厚膜电路测试指令后控制通道切换单元、负载单元和信号发生及测试单元；

通道切换单元，用于在该主控单元的控制下将被测用户接口厚膜电路的用户侧线切换到与该用户接口厚膜电路测试指令对应的测试通道；

负载单元，用于在该主控单元的控制下为与该用户接口厚膜电路测试指令对应的测试通道提供测试负载；

信号发生及测试单元，用于在该主控单元的控制下根据所述测试通道和测试负载对被测用户接口厚膜电路进行测试。

根据本发明的测量装置，所述用户接口厚膜电路测试指令包括：静态参数测试指令、功能测试指令和/或动态性能测试指令；

所述静态参数测试指令包括：馈电参数测试指令；

所述功能测试指令包括：摘/挂机功能测试指令；

所述动态性能测试指令包括：用户厚膜电路上/下行语音通路拨号/收号功能和用户接口厚膜电路上/下行增益调整指标测试。

根据本发明的测量装置，所述测试通道包括：静态参数测试通道和/或功能及动态性能测试通道；所述功能及动态性能测试通道进一步包括：摘机测试通道和挂机测试通道。

根据本发明的测量装置，所述信号发生及测试单元进一步包括：

第一信号发生及测试单元，位于被测用户接口厚膜电路的交换机侧，用于在主控单元的控制下根据测试通道和测试负载测试上行方向被测用户接口厚膜电路；

第二信号发生及测试单元，位于被测用户接口厚膜电路的用户侧，用于在主控单元控制下根据测试通道和测试负载测试下行方向被测用户接口厚膜电路。

根据本发明的测量装置，所述负载单元包括：