[发明专利]一种闪存存储器子卡测试装置及方法有效
申请号: | 200710176428.1 | 申请日: | 2007-10-26 |
公开(公告)号: | CN101145402A | 公开(公告)日: | 2008-03-19 |
发明(设计)人: | 夏伟年 | 申请(专利权)人: | 中兴通讯股份有限公司 |
主分类号: | G11C29/56 | 分类号: | G11C29/56 |
代理公司: | 北京汇泽知识产权代理有限公司 | 代理人: | 张颖玲 |
地址: | 518057广东省深圳市南山*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 闪存 存储器 测试 装置 方法 | ||
1.一种闪存FLASH存储器子卡测试装置,其特征在于,该装置包括:单片机、译码器、驱动器、状态指示灯电路,其中,
单片机,用于通过译码器选择当前待测的FLASH存储器子卡,并控制驱动器完成对当前所选FLASH存储器子卡的测试;
译码器,用于选择当前待测的FLASH存储器子卡;
驱动器,用于配合单片机完成对当前所选FLASH存储器子卡的测试;
状态指示灯电路,用于提供对FLASH存储器子卡测试过程中的测试状态指示。
2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述驱动器包括一个以上数据总线驱动器、一个以上地址总线驱动器,控制总线驱动器及指示灯电路驱动器。
3.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述状态指示灯电路包括一个以上状态指示灯,每个状态指示灯按照一定顺序与每个待测FLASH存储器子卡中的每个芯片对应。
4.一种闪存存储器子卡测试方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:
A、从安装好的所有待测FLASH存储器子卡中,选择当前待测的FLASH存储器子卡;
B、对当前选择的待测FLASH存储器子卡进行测试,根据测试结果显示所测试FLASH存储器子卡中每个芯片的状态。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,该方法进一步包括:测试FLASH存储器子卡之前测试状态指示灯。
6.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述步骤B包括:
B1、判断是否能识别FLASH存储器子卡中的每个芯片的标识ID,如果能识别,则此项测试通过,执行步骤B2;否则,此项测试错误,并通过状态指示指示错误,并停止对包含该芯片的FLASH存储器子卡的测试;
B2、对能识别ID的FLASH存储器子卡中的每个芯片进行擦除,判断擦除是否成功,如果擦除成功,则此项测试通过,执行步骤B3;否则,此项测试错误,,并停止对包含该芯片的FLASH存储器子卡的测试;
B3、对能识别ID并擦除成功的FLASH存储器子卡中的每个芯片进行读写,判断读写是否一致,如果读写一致,则此项测试通过;否则,此项测试错误,并通过状态指示指示错误。
7.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,该方法进一步包括:选择下一块待测的FLASH存储器子卡作为当前待测的FLASH存储器子卡,循环执行步骤B,直到完成对安装好的所有待测FLASH存储器子卡的测试。
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