[发明专利]一种闪存存储器子卡测试装置及方法

说明书

技术领域

本发明涉及闪存(FLASH)存储器子卡测试技术，尤其是指一种FLASH存储器子卡测试装置及方法。

背景技术

FLASH存储器作为一种非易失性存储介质已经得到非常广泛的应用，通常，把几个FLASH存储器芯片集成在一个小板上做成一块子卡，通过标准的SODIMM-144金手指与主板插座相连，这种FLASH存储器子卡不会占用主板的空间，这在当今小体积设备、高密度的单板上具有一定的优越性，且这种FLASH存储器子卡具有很好的通用性和可移植性。

由于FLASH存储器子卡本身无法单独上电进行测试，必须借助于使用此子卡的主板上电来进行测试。这样，由于FLASH存储器子卡生产工艺造成的焊接缺陷和器件自身质量缺陷，需要在该子卡装到主板上以后才能被发现，这无疑会增加返修成本，降低生产效率，对于当今竞争日益激烈的通讯制造行业是不利的，如何提高测试效率和测试有效性就成为关键。

现有的测试装置如图1所示，该装置包括：后台PC及主控板，主控板进一步包括CPU最小系统。该装置的工作流程是这样：首先将待测的FLASH存储器子卡通过标准的SODIMM-144金手指与主控板上的144芯插座连接，然后通过后台PC的串口控制线与主控板上的CPU最小系统通讯，后台PC发送命令，CPU最小系统接收命令后进行相应操作，来检查该FLASH存储器子卡能否正常下载版本、格式化是否成功、读写是否正确。在这里，CPU最小系统与FLASH存储器子卡之间是通过数据控制线来进行通讯的，这种测试装置每次只能对一块FLASH存储器子卡进行测试。

现有技术中对FLASH存储器子卡的测试存在以下不足：

1)需要借助相应的主板通过后台命令发送进行测试；

2)测试效率低，每次只能测试一个FLASH存储器子卡，不适合大批量生产要求，影响生产成本。

发明内容

有鉴于此，本发明的主要目的在于提供一种FLASH存储器子卡测试装置及方法，一次能测试多个FLASH存储器子卡，进而提高了FLASH存储器子卡的生产测试效率和测试的有效性。

为达到上述目的，本发明的技术方案是这样实现的：

一种闪存FLASH存储器子卡测试装置，该装置包括：单片机、译码器、驱动器、状态指示灯电路，其中，

单片机，用于通过译码器选择当前待测的FLASH存储器子卡，并控制驱动器完成对当前所选FLASH存储器子卡的测试；

译码器，用于选择当前待测的FLASH存储器子卡；

驱动器，用于配合单片机完成对当前所选FLASH存储器子卡的测试；

状态指示灯电路，用于提供对FLASH存储器子卡测试过程中的测试状态指示。

其中，所述驱动器包括一个以上数据总线驱动器、一个以上地址总线驱动器，控制总线驱动器及指示灯电路驱动器。

进一步地，所述状态指示灯电路包括一个以上状态指示灯，每个状态指示灯按照一定顺序与每个待测FLASH存储器子卡中的每个芯片对应。

一种闪存存储器子卡测试方法，该方法包括以下步骤：

A、从安装好的所有待测FLASH存储器子卡中，选择当前待测的FLASH存储器子卡；

B、对当前选择的待测FLASH存储器子卡进行测试，根据测试结果显示所测试FLASH存储器子卡中每个芯片的状态。

该方法进一步包括：测试FLASH存储器子卡之前测试状态指示灯。

进一步地，所述步骤B包括：

B1、判断是否能识别FLASH存储器子卡中的每个芯片的标识ID，如果能识别，则此项测试通过，执行步骤B2；否则，此项测试错误，并通过状态指示指示错误，并停止对包含该芯片的FLASH存储器子卡的测试；

B2、对能识别ID的FLASH存储器子卡中的每个芯片进行擦除，判断擦除是否成功，如果擦除成功，则此项测试通过，执行步骤B3；否则，此项测试错误，，并停止对包含该芯片的FLASH存储器子卡的测试；

B3、对能识别ID并擦除成功的FLASH存储器子卡中的每个芯片进行读写，判断读写是否一致，如果读写一致，则此项测试通过；否则，此项测试错误，并通过状态指示指示错误。

进一步地，该方法进一步包括：选择下一块待测的FLASH存储器子卡作为当前待测的FLASH存储器子卡，循环执行步骤B，直到完成对安装好的所有待测FLASH存储器子卡的测试。