[发明专利]一种聚合物压力-比容-温度关系间接测试方法及其装置有效
申请号: | 200710176914.3 | 申请日: | 2007-11-07 |
公开(公告)号: | CN101149369A | 公开(公告)日: | 2008-03-26 |
发明(设计)人: | 杨卫民;王建;丁玉梅 | 申请(专利权)人: | 北京化工大学 |
主分类号: | G01N33/44 | 分类号: | G01N33/44 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100029北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 聚合物 压力 比容 温度 关系 间接 测试 方法 及其 装置 | ||
1.一种聚合物压力、比容、温度关系间接测试方法,其特征在于:采用了由传压介质水银、密封液、样品室、压力容器、加压系统、加热冷却系统、压力传感器、位移传感器、热电偶、控制和计算系统组成的测试装置;测试方法的操作步骤是:
(1)测试前,被测样品通常是颗粒状,先将其进行处理,加热熔融排除出气泡,最后冷却成一球状或圆柱状固体;
(2)开始测试时,先将处理过的被测样品放入样品室,将样品室密封,样品室上腔有一小的引出孔同外界相通,样品室下腔有传压介质水银,在传压介质水银上附一层密封液,密度比水银轻、没有毒性且不易挥发;
(3)加压系统驱动下柱塞上移,由于压力作用,样品室下腔的附有一层密封液的水银上移,并浸没被测样品,被测样品由上下隔料片封在中间,不会因浮力作用而随液体上浮,密封液密度小,一直保持在水银上层,最后通过引出孔连同一部分水银被挤出样品室,然后将引出孔关闭,此时,传压介质水银完全将被测样品包裹在样品室中了;
(4)根据测试过程设置参数,通过加压系统驱动柱塞进行加压,利用加热器对压力容器进行加热,通过冷却系统对压力容器进行冷却,通过压力传感器、热电偶和位移传感器适时采集被测聚合物的压力、温度和位移数据,利用数据处理系统将位移数据进行换算得到比容数据;
(5)测试实验结束后,控制压力、温度恢复初始值,再将引出孔打开,下柱塞下移,水银及密封液一起下移,回复原位,打开样品室,将被测样品取出;
(6)再单独对传压介质水银作一次测试,将得到的结果同放入被测样品得到的结果作一个差值,消除比容相对值,汇总得到被测样品的压力、比容、温度数据。
2.根据权利要求1所述的聚合物压力、比容、温度关系间接测试方法,其特征在于:聚合物压力-比容-温度关系的测试过程为等压降温-升压、等压降温-降压、等压升温-升压、等压升温-降压、等温升压-降温、等温升压-升温、等温降压-降温、等温降压-升温。
3.用于权利要求1所述的聚合物压力、比容、温度关系间接测试方法的测试装置,其特征在于:测试装置由传压介质水银、密封液、样品室、压力容器、加压系统、加热冷却系统、压力传感器、位移传感器、热电偶和数据处理系统组成;样品室由两个腔组成,传压介质水银连同密封液储存在下腔中,下腔给其留有足够的储存空间,在上腔的一侧钻一小的引出孔,外侧接一引出管,出口由一开关阀控制;在上腔和下腔的阶梯处焊一薄的隔料片,片上开满小孔;样品室上下由两个柱塞密封,柱塞端部都有密封措施;下柱塞由加压系统驱动在样品室下腔内作上下直线运动,下柱塞设置有位移传感器,上柱塞端部装有压力传感器;压力容器筒壁设置有热电偶,并开有冷却水道,外边由加热器包裹。
4.根据权利要求1所述的聚合物压力、比容、温度关系间接测试方法,其特征在于:传压介质水银的密封液要求不会同水银互溶,密度比水银小,如水;但对于实验时排出在外的那小部分水银和水要与测试容器隔离,或对排出的水和小部分水银的储存部分冷却。
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