[发明专利]一种增强氧化锌薄膜蓝光发射的方法无效

专利信息
申请号: 200710177789.8 申请日: 2007-11-21
公开(公告)号: CN101442089A 公开(公告)日: 2009-05-27
发明(设计)人: 张兴旺;游经碧;范亚明;屈盛;陈诺夫 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 周国城
地址: 100083北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 增强 氧化锌 薄膜 发射 方法
【权利要求书】:

1.一种增强氧化锌薄膜蓝光发射的方法,其特征在于,通过制备ZnO/Ag复合结构薄膜,利用Ag表面等离激元与ZnO带间发射间的共振耦合,使ZnO带间辐射复合速率加快;同时借助具有一定粗糙度的Ag薄膜表面将等离激元耦合成光,以达到增强ZnO薄膜带间的蓝光发射,同时有效地抑制ZnO薄膜中缺陷导致的绿光发射;

所述制备ZnO/Ag复合结构薄膜,是使用三靶射频磁控溅射系统制备ZnO/Ag复合结构薄膜,其包括如下步骤:

1)以Si(001)单晶片为衬底;

2)用99.99%的高纯Ag靶作为金属Ag薄膜沉积的溅射靶;

3)用99.99%的高纯ZnO陶瓷靶作为ZnO薄膜沉积的溅射靶;

4)采用ZnO/Ag双层结构,第一层沉积Ag,第二层沉积ZnO;

所述4)步中,沉积生长时的衬底-靶的间距d为50-80mm;

所述4)步中,第一层沉积Ag时,衬底温度为室温;工作气体为高纯氩,工作气体压强pAg=1.0-2.0Pa;溅射功率WAg=20-80W,沉积Ag所用的时间tAg=5-40min;

所述4)步中,第二层沉积ZnO时,衬底温度TZnO=400℃;工作气体为高纯氩,工作气体压强pZnO=1.0-2.0Pa;溅射功率WZnO=40-90W,沉积ZnO所用的时间tZnO=30-80min。

2.根据权利要求1所述的增强氧化锌薄膜蓝光发射的方法,其特征在于,所述生长ZnO/Ag复合结构薄膜的装置三靶射频磁控溅射系统,其样品室背景真空度为1×10-5Pa,各磁控溅射靶能够独立的控制材料制备过程中的各个参数。

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