[发明专利]一种实现SDH单板误码测试的装置及其方法

权利要求书

1.一种实现SDH单板误码测试的装置，包括网管系统，其特征在于，还包括：内嵌自测模块的待测SDH单板；

所述网管系统使能待测SDH单板中的一块指定待测SDH单板，将所述指定待测SDH单板的伪随机序列按照业务穿通所述待测SDH单板，并回到所述指定待测SDH单板；

所述指定待测SDH单板根据所述伪随机序列进行误码测试，并将误码测试结果上报给所述网管系统。

2.根据权利要求1所述的实现SDH单板误码测试的装置，其特征在于，所述自测模块包括：

伪随机序列发生器，用于产生所述伪随机序列；

伪随机序列接收器，连接所述伪随机序列发生器，用于接收穿通所述待测SDH单板后的所述伪随机序列；

比较和误码统计指示模块，连接所述伪随机序列发生器、所述伪随机序列接收器，用于比较所述伪随机序列与穿通所述待测SDH单板后的所述伪随机序列，获取所述误码测试结果，并上报给所述网管系统。

3.根据权利要求2所述的实现SDH单板误码测试的装置，其特征在于，所述伪随机序列发生器、所述伪随机序列接收器、所述比较和误码统计指示模块通过所述待测SDH单板的FPGA实现。

4.根据权利要求2或3所述的实现SDH单板误码测试的装置，其特征在于，所述伪随机序列发生器由D触发器和异或门组成。

5.根据权利要求2或3所述的实现SDH单板误码测试的装置，其特征在于，所述伪随机序列接收器为15比特深度的缓存器。

6.根据权利要求1、2或3所述的实现SDH单板误码测试的装置，其特征在于，所述伪随机序列为2¹⁵-1的伪随机序列。

7.一种实现SDH单板误码测试的方法，其特征在于，包括：

步骤一，网管系统使能内嵌自测模块的待测SDH单板中的指定待测SDH单板，将所述指定待测SDH单板的伪随机序列穿通所述待测SDH单板，并回到所述指定待测SDH单板；

步骤二，所述指定待测SDH单板根据所述伪随机序列进行误码测试，并将误码测试结果上报给所述网管系统。

8.根据权利要求7所述的实现SDH单板误码测试的方法，其特征在于，所述步骤一中，进一步包括：

通过所述网管系统下发命令给所述指定待测SDH单板，开启所述指定待测SDH单板的使能开关使能所述指定待测SDH单板的步骤。

9.根据权利要求7或8所述的实现SDH单板误码测试的方法，其特征在于，所述步骤一中，进一步包括：

所述指定待测SDH单板按照配置的时隙业务将所述伪随机序列穿通所述待测SDH单板的步骤。

10.根据权利要求7或8所述的实现SDH单板误码测试的方法，其特征在于，所述步骤二中，进一步包括：

所述指定待测SDH单板通过比较穿通所述待测SDH单板之前、之后的所述伪随机序列进行误码测试，获取所述误码测试结果的步骤。

11.根据权利要求7或8所述的实现SDH单板误码测试的方法，其特征在于，所述步骤二中，进一步包括：

所述待测SDH单板进行性能检测和/或告警检测，并将获取的检测结果上报至所述网管系统的步骤。