[发明专利]一种实现SDH单板误码测试的装置及其方法

说明书

技术领域

本发明涉及SDH(Synchronous Digital Hierarchy，同步数字系列)单板以及SDH整机联调时的误码测试领域，特别是涉及一种实现SDH单板误码测试的装置及其方法。

背景技术

SDH系统的单板或整机在生产线加工后，必须要经过一系列的测试，包括高温老化、误码测试、指标测试等之后才能发货。在进行大批量生产发货时，采用传统的误码测试方法时需要很多的测试仪表，会造成仪表资源的紧张，影响生产和发货。

传统的测试方法是借助外接的测试仪表20，在网管系统10上进行时隙配置，穿通所有待测SDH单板30，最后再回到外接的测试仪表20，如图1所示，为传统的测试方案。

申请号为200510018544.1、发明名称为《基于现场可编程门阵列的155M比特误码分析测试仪》的中国发明专利申请描述了一种误码分析仪，但该方案过于复杂，而且是独立于待测系统的一套设备。

专利号为200420007225.1、发明名称为《内嵌误码测试功能的光端机》的中国实用新型专利描述了一种新的光端机，但该方案也比较复杂，成本较高。

发明内容

本发明所要解决的技术问题在于提供一种实现SDH单板误码测试的装置及其方法，用于现有技术中进行单板误码测试时需额外增加硬件，造成成本较高、实现较为复杂的问题。

为了实现上述目的，本发明提供了一种实现SDH单板误码测试的装置，包括网管系统，其特征在于，还包括：内嵌自测模块的待测SDH单板；

所述网管系统使能待测SDH单板中的一块指定待测SDH单板，将所述指定待测SDH单板的伪随机序列按照业务穿通所述待测SDH单板，并回到所述指定待测SDH单板；

所述指定待测SDH单板根据所述伪随机序列进行误码测试，并将误码测试结果上报给所述网管系统。

所述的实现SDH单板误码测试的装置，其中，所述自测模块包括：

伪随机序列发生器，用于产生所述伪随机序列；

伪随机序列接收器，连接所述伪随机序列发生器，用于接收穿通所述待测SDH单板后的所述伪随机序列；

比较和误码统计指示模块，连接所述伪随机序列发生器、所述伪随机序列接收器，用于比较所述伪随机序列与穿通所述待测SDH单板后的所述伪随机序列，获取所述误码测试结果，并上报给所述网管系统。

所述的实现SDH单板误码测试的装置，其中，所述伪随机序列发生器、所述伪随机序列接收器、所述比较和误码统计指示模块通过所述待测SDH单板的FPGA实现。

所述的实现SDH单板误码测试的装置，其中，所述伪随机序列发生器由D触发器和异或门组成。

所述的实现SDH单板误码测试的装置，其中，所述伪随机序列接收器为15比特深度的缓存器。

所述的实现SDH单板误码测试的装置，其中，所述伪随机序列为2¹⁵-1的伪随机序列。

为了实现上述目的，本发明还提供了一种实现SDH单板误码测试的方法，其特征在于，包括：

步骤一，网管系统使能内嵌自测模块的待测SDH单板中的指定待测SDH单板，将所述指定待测SDH单板的伪随机序列穿通所述待测SDH单板，并回到所述指定待测SDH单板；

步骤二，所述指定待测SDH单板根据所述伪随机序列进行误码测试，并将误码测试结果上报给所述网管系统。

所述的实现SDH单板误码测试的方法，其中，所述步骤一中，进一步包括：

通过所述网管系统下发命令给所述指定待测SDH单板，开启所述指定待测SDH单板的使能开关使能所述指定待测SDH单板的步骤。

所述的实现SDH单板误码测试的方法，其中，所述步骤一中，进一步包括：

所述指定待测SDH单板按照配置的时隙业务将所述伪随机序列穿通所述待测SDH单板的步骤。

所述的实现SDH单板误码测试的方法，其中，所述步骤二中，进一步包括：

所述指定待测SDH单板通过比较穿通所述待测SDH单板之前、之后的所述伪随机序列进行误码测试，获取所述误码测试结果的步骤。

所述的实现SDH单板误码测试的方法，其中，所述步骤二中，进一步包括：

所述待测SDH单板进行性能检测和/或告警检测，并将获取的检测结果上报至所述网管系统的步骤。

本发明的有益技术效果：

与现有技术相比，本发明无需增加额外的硬件成本，实现起来简单方便，节约成本，提高工作效率。