[发明专利]测试系统

权利要求书

1.一种测试系统，用以测试低电压差动信号，该测试系统包括：

晶圆，提供该低电压差动信号；

转换器，将该低电压差动信号转换成处理信号；以及

测试装置，接收该处理信号，以测试该低电压差动信号是否正常。

2.如权利要求1所述的测试系统，其中该转换器是设置在测试卡上的。

3.如权利要求2所述的测试系统，其中该测试卡具有：至少一个探针，耦接于该晶圆与该转换器之间，用以传送该低电压差动信号。

4.如权利要求3所述的测试系统，还包括：连接接口，耦接于该测试卡与该测试装置之间，用以将该处理信号传送至该测试装置。

5.如权利要求1所述的测试系统，其中该转换器放大该低电压差动信号，以产生该处理信号。

6.如权利要求1所述的测试系统，其中该转换器以串行方式接收该低电压差动信号，并以并行方式输出该处理信号。

7.如权利要求1所述的测试系统，其中该转换器为解码器。