[发明专利]测试系统有效

专利信息
申请号: 200710187123.0 申请日: 2007-11-16
公开(公告)号: CN101435853A 公开(公告)日: 2009-05-20
发明(设计)人: 滕贞勇;许益彰;黄杰威 申请(专利权)人: 普诚科技股份有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R31/3177;G01R31/319
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所 代理人: 刘新宇
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 测试 系统
【权利要求书】:

1.一种测试系统,其特征在于,用来测试多个待测试元件, 该测试系统包括有:

一测试主机,用来提供多个控制信号,并依据该多个待测 试元件所产生的多个量测结果,决定该多个待测试元件的测试 结果;

多个处理器,耦接于该测试主机,用以依据该多个控制信 号,产生多个测试信号,其中该多个待测试元件依据该多个测 试信号,分别产生相应的量测结果;以及

多个量测仪器,每一量测仪器耦接于该多个处理器其中之 一以及该多个待测试元件其中之一,用以依据该多个测试信号 其中之一,对相应的待测试元件进行量测,其中该测试系统另 包括有一第一待测试元件,该测试主机产生一第一测试信号, 该第一待测试元件依据该第一测试信号,产生一第一量测结果, 而该测试主机依据该第一待测试元件所产生的该第一量测结 果,决定该第一待测试元件的测试结果。

2.根据权利要求1所述的测试系统,其特征在于,该测试 主机依据该第一量测结果及该多个量测结果产生一接口控制信 号,再依据该接口控制信号决定该多个待测试元件的测试结果。

3.根据权利要求2所述的测试系统,其特征在于,该接口 控制信号包括有多个测试结束信号分别表示不同的待测试元件 完成测试、一测试成功信号以表示对应于一测试结束信号所完 成测试的一待测试元件通过测试、以及一测试失败信号以表示 对应于一测试结束信号所完成测试的另一待测试元件未通过测 试。

4.根据权利要求1所述的测试系统,其特征在于,该多个 处理器分别包括有一传输接口,其中每一该传输接口耦接于该 多个量测仪器其中之一,用以传输该多个测试信号其中之一至 相应的量测仪器。

5.根据权利要求4所述的测试系统,其特征在于,所述传 输接口分别为一通用仪器总线。

6.根据权利要求1所述的测试系统,其特征在于,该测试 主机包括有一第一传输总线,耦接于该多个处理器,用以分别 传送该多个控制信号至相应的处理器,并用以接收相应的量测 结果。

7.根据权利要求6所述的测试系统,其特征在于,该多个 处理器分别包括有一第二传输总线,耦接于该第一传输总线, 用以分别接收自该第一传输总线所传输的相应的控制信号,并 用以分别传送相应的量测结果。

8.根据权利要求1所述的测试系统,其特征在于,该多个 处理器分别包括有一暂存器,用以分别储存该多个待测试元件 所产生的相应的量测结果。

9.根据权利要求2所述的测试系统,其特征在于,该测试 主机另包括一第一量测仪器,耦接于测试主机以及该第一待测 试元件,用以依据该第一测试信号,对该第一待测试元件进行 量测。

10.根据权利要求9所述的测试系统,其特征在于,该测试 主机包括一第一传输接口,耦接于该第一量测仪器,用以传输 该第一测试信号至该第一量测仪器。

11.根据权利要求10所述的测试系统,其特征在于,该第 一传输接口为一通用仪器总线。

12.根据权利要求2所述的测试系统,其特征在于,该测试 主机包括一判别模块,用以依据该接口控制信号决定该多个待 测试元件的测试结果。

13.根据权利要求1所述的测试系统,其特征在于,该测试 主机为一逻辑测试机。

14.根据权利要求1所述的测试系统,其特征在于,该多个 待测试元件分别为一集成电路。

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