[发明专利]扫描装置及扫描型光学装置有效

专利信息
申请号: 200710192715.1 申请日: 2007-11-16
公开(公告)号: CN101183202A 公开(公告)日: 2008-05-21
发明(设计)人: 野岛重男 申请(专利权)人: 精工爱普生株式会社
主分类号: G02F1/29 分类号: G02F1/29;G02F1/03
代理公司: 北京市中咨律师事务所 代理人: 陈海红;段承恩
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 扫描 装置 光学
【权利要求书】:

1.一种扫描装置,其特征在于,具备:

光学元件,其通过折射率分布相应于在内部产生的电场的大小进行变化而使所入射的激光进行扫描;

第1电极及第2电极,其分别配置于该光学元件的相对向的2个面;

和控制部,其对施加于前述第1电极及前述第2电极之中的至少一方的电压进行控制,使得在前述光学元件中前述电场的方向时间性地在一个方向和与该一个方向相反的另一方向上产生。

2.按照权利要求1所述的扫描装置,其特征在于:

前述控制部,以在前述光学元件中交替产生前述一个方向及前述另一方向的电场的方式对电压进行控制。

3.按照权利要求1或2所述的扫描装置,其特征在于:

前述控制部,以在前述光学元件中产生前述一个方向的电场时的施加电压的时间积分值、与产生前述另一方向的电场时的施加电压的时间积分值变得相同的方式对电压进行控制。

4.按照权利要求1~3中的任何一项所述的扫描装置,其特征在于:

前述光学元件具有KTa1-XNbXO3的组成。

5.一种扫描型光学装置,其特征在于,

具备:射出激光的光源装置,和

使从该光源装置射出来的激光朝向被投影面进行扫描的扫描单元;

该扫描单元,具有权利要求1~4中的任何一项所述的扫描装置。

6.按照权利要求5所述的扫描型光学装置,其特征在于:

前述扫描单元,进行水平扫描。

7.按照权利要求5或6所述的扫描型光学装置,其特征在于:

在射出于前述被投影面的激光的水平回扫期间,以在前述光学元件中前述电场的方向在前述一个方向或者前述另一方向上产生的方式施加电压。

8.按照权利要求5~7中的任何一项所述的扫描型光学装置,其特征在于:

在射出于前述被投影面的激光的垂直回扫期间,以在前述光学元件中前述电场的方向在前述一个方向或者前述另一方向上产生的方式施加电压。

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