[发明专利]分划间隙定量测量调校方法及其辅助用具有效
申请号: | 200710193196.0 | 申请日: | 2007-12-19 |
公开(公告)号: | CN101187554A | 公开(公告)日: | 2008-05-28 |
发明(设计)人: | 陈世良;周琛芳;郭华芝;程雪梅 | 申请(专利权)人: | 河南中光学集团有限公司 |
主分类号: | G01B21/16 | 分类号: | G01B21/16 |
代理公司: | 郑州联科专利事务所 | 代理人: | 张晓萍 |
地址: | 473000河南省南阳市*** | 国省代码: | 河南;41 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 间隙 定量 测量 调校 方法 及其 辅助 用具 | ||
1.一种分划间隙定量测量调校方法,其特征在于:该测量调校方法步骤如下;
a)将定量测量辅具安装在光电成像器的分划端,并通过定量调校辅具测出光电成像器的光纤面板外端面与分划板固定圈外端面之间的间隙值H;
b)将待测分划板部件装卡在定量调校辅具内,并通过定量调校辅具测出分划板外端面与分划板固定圈外端面之间的距离h;
c)按照Δ′=H-h计算出光纤面板外端面与分划板外端面之间的实时间隙值Δ′,并与设定的间隙允许值Δ比较,得出调整值;
d)按照调整值,旋转分划板座,调整分划板外端面与分划板固定圈外端面之间的距离h,并将实时间隙值Δ′调校至设定间隙值Δ的范围内,即完成分划间隙定量测量调校。
2.一种用于分划间隙定量测量调校方法的辅助用具,其特征在于:它包括一个用于测量间隙值H的定量测量辅具和一个用于测量h值的定量调校辅具,定量测量辅具是由测量定位块和千分表组成,测量时安装在光电成像器的分划端;定量调校辅具是由间隙调校组件和千分表组成,调校时通过辅助压圈将待测分划板部件装卡在间隙调校组件内。
3.根据权利要求2所述的用于分划间隙定量测量调校方法的辅助用具,其特征在于:所述测量定位块与光电成像器外壳配合,其上设有用于安装千分表的检测通孔,千分表测头穿过检测通孔与光电成像器的光纤面板外端面相触接。
4.根据权利要求2所述的用于分划间隙定量测量调校方法的辅助用具,其特征在于:所述间隙调校组件具有一个带内腔的固定座,其一端设有用于安装千分表的通孔,另一端通过紧固件连接有用于装卡待测分划板部件的定位环,固定座内腔装有可以轴向滑动并带有接触头的过渡滑块,其一端设有与固定座连接用于限止接触头下死点位置的限位板。
5.根据权利要求2所述的用于分划间隙定量测量调校方法的辅助用具,其特征在于:所述过渡滑块与套筒状固定座之间装有压紧弹性件。
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