[发明专利]分划间隙定量测量调校方法及其辅助用具

说明书

技术领域

本发明属于光学仪器技术领域，是一种分划间隙定量测量调校方法及其辅助用具。

背景技术

在公知的技术中，为了保证探测的精确性，光电成像系统中的光钎面板与分划板刻字面间隙要求非常严格，其误差一般要求控制在0.10～0.12mm范围内。为达到这一要求，通常是将分划板压铆在分划板座内，分划板座与分划板固定圈之间采用螺纹连接，用于间隙的调整。由于结构所限，间隙所在的空间狭小，实施调校、测量很不方便。而且调校时一般采用压纸定性的调整方法，是将厚度为0.10的铜版纸冲制成圆片，放在像增强器光钎面板表面上，然后通过旋转分划板座将纸片压紧，凭人为感觉决定松紧，以此保证间隙的精确度。装配过程中的检验也是用厚度为0.10mm的纸片作为通规，0.12mm的纸片作为止规来检测间隙的尺寸。该方法存在的不足：①对操作人员素质要求高；②间隙保证只能定性判断；③间隙测量的工具无法精确按计量量值传递；④间隙值调整的可靠性差。

发明内容

本发明的目的是提供一种能够精确地测量出间隙的量值，确保调校精度，而且测量便捷、调校稳定可靠的分划间隙定量测量调校方法及其辅助用具。

实现本发明的目的所采取的技术方案是：利用定量测量辅具和定量调校辅具并采用间接测量的方式进行分划间隙的调整，其测量调校方法步骤如下：

a)将定量测量辅具安装在光电成像器的分划端，并通过定量调校辅具测出光电成像器的光纤面板外端面与分划板固定圈外端面之间的间隙值H；

b)将待测分划板部件装卡在定量调校辅具内，并通过定量调校辅具测出分划板外端面与分划板固定圈外端面之间的距离h；

c)按照Δ′＝H-h计算出光纤面板外端面与分划板外端面之间的实时间隙值Δ′，并与设定的间隙允许值Δ比较，得出调整值；

d)按照调整值，旋转分划板座，调整分划板外端面与分划板固定圈外端面之间的距离h，并将实时间隙值Δ′调校至设定间隙值Δ的范围内，即完成分划间隙定量测量调校。

本发明所用的辅助用具包括一个用于测量间隙值H的定量测量辅具和一个用于测量h值的定量调校辅具，定量测量辅具是由测量定位块和千分表组成，测量时安装在光电成像器的分划端；定量调校辅具是由间隙调校组件和千分表组成，调校时通过辅助压圈将待测分划板部件装卡在间隙调校组件内。

所述测量定位块与光电成像器外壳配合，其上设有用于安装千分表的检测通孔，千分表测头穿过检测通孔与光电成像器的光纤面板外端面相触接。

所述间隙调校组件具有一个带内腔的固定座，其一端设有用于安装千分表的通孔，另一端通过紧固件连接有用于装卡待测分划板部件的定位环，固定座内腔装有可以轴向滑动并带有接触头的过渡滑块，其一端设有与固定座连接用于限止接触头下死点位置的限位板。

所述过渡滑块与套筒状固定座之间装有压紧弹性件。

采用上述分划间隙定量测量调校方法及其辅助测量调校用具，能够精确地测量和调校分划板与光纤面板之间的安装间隙，并能有效地保证其安装精度，从而提高产品的使用性能，具有使用便捷、可靠性强等优点。

附图说明

图1是本发明测量部位的结构示意图；

图2是定量测量的结构示意图；

图3是定量调校的结构示意图。

具体实施方式

参看图1，本发明的分划间隙定量测量调校采用间接测量法，它是以分划板固定圈4外端面为基准面，先用定量测量辅具测出光电成像器2的光纤面板3外端面与基准面之间的间隙值H，再用定量调校辅具，测出分划板6外端面与分划板固定圈4外端面之间的距离h，然后通过运算公式Δ′＝H-h计算出被测量的光纤面板3外端面与分划板6外端面之间的实时间隙值Δ′，并将Δ′值与设定的误差允许值Δ进行比较，得出此间隙调整值，最后通过转动分划板座5，调整分划板6外端面与分划板固定圈4外端面之间的距离h，并将实时间隙值Δ′调校至设定间隙允许值Δ的范围内，即准确地达到装配精度的要求，同时也可以准确地记录每一产品光纤面板3外端面与分划板6外端面之间的间隙值。