[发明专利]影像校正系统及方法无效

专利信息
申请号: 200710200156.4 申请日: 2007-02-06
公开(公告)号: CN101242546A 公开(公告)日: 2008-08-13
发明(设计)人: 张旨光;蒋理;孙小超 申请(专利权)人: 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
主分类号: H04N17/00 分类号: H04N17/00;H04N5/335
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518109广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 影像 校正 系统 方法
【权利要求书】:

1. 一种影像校正系统,包括计算机及影像量测机台,其中,所述计算机包括影像撷取卡,所述影像量测机台安装有电荷耦合装置,所述电荷耦合装置搭配一个工业光学镜头,用于获取待测工件的影像,并将该影像传送至计算机的影像撷取卡中,其特征在于,所述计算机还包括:

影像校正程序,用于对上述的待测工件的影像进行校正,该影像校正程序包括:

偏差值计算模块,用于计算测量参考点的偏差值;及

影像校正模块,用于根据上述计算的测量参考点的偏差值对待测工件的影像上的点进行校正计算。

2. 如权利要求1所述的影像校正系统,其特征在于,所述的测量参考点是将所述的电荷耦合装置搭配工业光学镜头的成像范围分割成的多个方格图形的格线交叉点;所述的测量参考点的偏差值是该测量参考点的实际值与测量值之差。

3. 如权利要求2所述的影像校正系统,其特征在于,所述的测量参考点的偏差值存储在一个表格中。

4. 如权利要求2所述的影像校正系统,其特征在于,该系统还包括一个校正片,用于测量所述测量参考点的实际值。

5. 一种影像校正方法,其利用计算机对通过影像量测机台的电荷耦合装置量测得到的待测工件的影像进行校正,其特征在于,该方法包括步骤:

选择所述影像上的一个点P0;

将该点P0的机械坐标转换为所述电荷耦合装置的坐标;

获取距离该点P0最近的四个测量参考点;

计算该点P0到上述四个测量参考点的距离D0,D1,D2,D3;

获取上述四个测量参考点的偏差值A0,A1,A2,A3;

根据上述计算出的D0,D1,D2,D3及获取的偏差值A0,A1,A2,A3计算该点P0的偏差值;及

根据所述偏差值对该点P0进行校正计算。

6. 如权利要求5所述的影像校正方法,其特征在于,所述的测量参考点是将影像量测机台上的电荷耦合装置搭配工业光学镜头的成像范围分割成的多个方格图形的格线交叉点。

7. 如权利要求6所述的影像校正方法,其特征在于,所述获取测量参考点的偏差值的步骤包括:

选择一个格线交叉点作为测量参考点进行测量;

将该测量参考点的机械坐标转换为电荷耦合装置的坐标;

计算出该测量参考点的测量值;

利用校正片量测出该测量参考点的实际值;及

计算所述实际值与所述测量值之差得到该测量参考点的偏差值。

8. 如权利要求7所述的影像校正方法,其特征在于,所述的测量参考点的偏差值存储在一个表格中。

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