[发明专利]影像校正系统及方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种影像校正系统及方法。

背景技术

在精密影像量测中，标准工业电荷耦合装置(Charge Coupled Device，简称CCD)搭配特殊的镜头可以得到高清晰影像，但由于CCD和镜头特性，拍摄到的影像与真实图像在高误差放大比例下相对比会有一定的变形，对精密量测结果有一定的影响。参阅图1与图2所示，分别为一线格图形的实际图像与通过标准CCD成像后的影像，可见图2中的线格有一定的变形。为了克服这种机械造成的影像变形，需要提供一种可以对影像进行校正的方法。

发明内容

鉴于以上内容，有必要提出一种影像校正系统，其采用格线补正的方法，补偿机械误差，对影像进行校正。

鉴于以上内容，还有必要提出一种影像校正系统，其采用格线补正的方法，补偿机械误差，对影像进行校正。

一种影像校正系统，包括计算机及影像量测机台。其中，所述计算机包括影像撷取卡，所述影像量测机台安装有电荷耦合装置，所述电荷耦合装置搭配一个工业光学镜头，用于获取待测工件的影像，并将该影像传送至计算机的影像撷取卡中。所述计算机还包括：影像校正程序，用于对上述的待测工件的影像进行校正，该影像校正程序包括：偏差值计算模块，用于计算测量参考点的偏差值；及影像校正模块，用于根据上述计算的测量参考点的偏差值对待测工件的影像上的点进行校正计算。

进一步的，所述的测量参考点是将所述的电荷耦合装置搭配工业光学镜头的成像范围分割成的多个方格图形的格线交叉点；所述的测量参考点的偏差值是该测量参考点的实际值与测量值之差。

一种影像校正方法，其利用计算机对通过影像量测机台的电荷耦合装置量测得到的待测工件的影像进行校正。该方法包括步骤：选择所述影像上的一个点P0；将该点P0的机械坐标转换为所述电荷耦合装置的坐标；获取距离该点P0最近的四个测量参考点；计算该点P0到上述四个测量参考点的距离D0，D1，D2，D3；获取上述四个测量参考点的偏差值A0，A1，A2，A3；根据上述计算出的D0，D1，D2，D3及获取的偏差值A0，A1，A2，A3计算该点P0的偏差值；及根据所述偏差值对该点P0进行校正计算。

进一步的，所述的测量参考点是将影像量测机台上的电荷耦合装置搭配工业光学镜头的成像范围分割成的多个方格图形的格线交叉点。

相较于现有技术，本发明所提供的影像校正系统及方法采用格线补正的方法，对影像进行补偿校正，有效的消除或减少了机械本身的误差影响。

附图说明

图1是一方格图形的实际图像。

图2是图1中的方格图形通过CCD成像后的影像。

图3是本发明影像校正系统较佳实施例的硬体架构图。

图4是图3中影像校正程序的功能模块图。

图5是本发明影像校正方法较佳实施例中计算测量参考点的偏差值的实施流程图。

图6是本发明影像校正方法较佳实施例中校正测量参考点的偏差值的实施流程图。

图7是本发明较佳实施例中表格的示意图。

图8是本发明影像校正方法较佳实施例中对影像进行校正计算的实施流程图。

图9是计算距离影像上的一点最近的格线交叉点的示意图。

具体实施方式

参阅图3所示，是本发明影像校正系统较佳实施例的硬体架构图。该影像校正系统包括计算机1及放置待测工件5的影像量测机台6。其中，所述影像量测机台6的Z轴上还安装有用于采集连续影像的电荷耦合装置(Charged Coupled Device，CCD)7，该CCD7装有工业光学镜头。CCD7搭配所述工业光学镜头可以使待测工件5成像。进一步的，为了影像校正的需要，所述待测工件5的下方还要放置一个校正片4，其相当于一个带有刻度的，且精度很高的直尺，可以用来量测待测工件5的实际长度。所述计算机1装有影像撷取卡10及影像校正程序11。其中CCD7通过影像数据线与所述影像撷取卡10相连，将从影像量测机台6获取的待测工件5的影像传送到影像撷取卡10上，并显示于计算机1的显示屏幕(未示出)上。所述影像校正程序11主要用于对所获取的待测工件5的影像进行校正计算。

参阅图4所示，是图3中影像校正程序11的功能模块图。本发明所称的各模块是所述影像校正程序11中完成特定功能的各个程序段，比程序本身更适合于描述软件在计算机中的执行过程，因此本发明对软件的描述都以模块描述。

所述影像校正程序11主要包括：偏差值计算模块110及影像校正模块111。