[发明专利]平面度测量装置

权利要求书

1.一种平面度测量装置，用来测量平板型待测元件的平面度，包括一用来支撑所述待测元件的一边的平台及一垂直安装于所述平台的支架，其特征在于：所述平面度测量装置还包括一用于测量待侧元件的平面度而安装于支架的适当位置处的测量系统，所述测量系统包括一测量部、一带可弹性伸缩的表杆的测量表及一操控所述测量部运动的微调元件，所述测量部的一端抵顶于所述测量表的表杆，测量时，拧紧所述微调元件使其推动所述测量部向所述待测元件方向移动而与待测元件接触，并使抵顶于所述测量部的表杆也向所述待测元件方向弹性伸出，所述测量表根据表杆伸出的长度显示测量部的移动距离，从而测得所述待测元件的平面度。

2.如权利要求1所述的平面度测量装置，其特征在于：所述测量系统还包括一固定架，所述固定架包括一与测量表的表杆的伸缩方向平行的第一侧面及一邻接于第一侧面并与测量表相对的第二侧面，所述固定架由第一侧面的中间部位横向设有一收容槽，所述收容槽一直延伸直至贯穿所述第二侧面，所述固定架上开设一与所述收容槽相通并贯穿至与所述第二侧面相对的一侧面的通孔，所述测量部包括一测量块，所述测量块包括一用以接触所述待测元件的竖直部及一水平部，所述水平部可移动地穿过所述通孔并收容于所述收容槽。

3.如权利要求2所述的平面度测量装置，其特征在于：所述支架包括一竖直的导轨，所述固定架由顶部向底部开设一贯穿的竖直通孔，所述固定架通过其竖直通孔套设于所述导轨，从而将所述固定架可移动地装设于所述支架。

4.如权利要求2所述的平面度测量装置，其特征在于：所述测量部还包括一挡块、一弹簧及一连接件，所述弹簧套设于所述测量块的水平部，所述连接件将所述挡块连接于所述水平部，所述弹簧的一端抵顶于所述固定架，另一端抵顶于所述挡块。

5.如权利要求4所述的平面度测量装置，其特征在于：所述测量系统还包括一固定体，所述固定体包括一固定板及一自固定板的中部突起的固定块，所述固定板固定于所述固定架的第一侧面，所述微调元件安装于所述固定块，且其末端抵挡于所述挡块。

6.如权利要求4所述的平面度测量装置，其特征在于：所述测量系统还包括一表架，所述表架包括一供所述测量表的表杆穿过的主体和自所述主体向两相反方向竖直延伸的两固定脚，所述两固定脚分别固定于所述固定架的第二侧面。

7.如权利要求6所述的平面度测量装置，其特征在于：所述表架的主体上横向开设一通孔，竖直开设一与所述通孔相通的螺孔，所述测量表的一侧延伸一环绕所述表杆的固定部，一轴套套设于所述固定部，所述轴套及表杆穿过所述表架的主体的通孔使所述表杆抵顶于所述连接件，一螺钉穿过所述螺孔抵顶于所述轴套的侧壁，从而将所述测量表固定于所述表架。

8.如权利要求7所述的平面度测量装置，其特征在于：所述轴套的侧壁上开设一狭槽。

9.如权利要求2至8中任何一项所述的平面度测量装置，其特征在于：所述测量块的竖直部的一边缘背向其水平部垂直设有一凸缘，所述凸缘可抵顶于待测元件的外凸部位，以便判断所述竖直部与所述待测元件的接触情况，从而精确测量待测元件的外凸程度。

10.如权利要求2至8中任何一项所述的平面度测量装置，其特征在于：所述平面度测量装置还包括一便于测量待测元件内凹变形面的头部为圆弧面的测量头，所述测量头可拆卸地安装于所述测量部的测量块，用于抵顶于待测元件的凹陷部位，从而测量待测元件的凹陷程度。