[发明专利]平面度测量装置

说明书

技术领域

本发明是涉及一种测量装置，特别涉及一种进行平面度测量的测量装置。

背景技术

笔记型电脑前、后盖注塑成型及烤漆过程中，平面度测量一直是此类工序地管控难点，而平面的变形程度又直接影响到产品的质量，因此平面度测量就显得格外重要。现有的测量方法是将被测面板立于治具一侧，被测面板靠近上下边缘的地方贴紧治具的两定位销，通过被测面板与治具基准面之间的间隙位置来判定其平面度是否符合规格要求，即被测面板与治具基准面之间出现间隙即判定该被测面板合格；若被测面板与治具基准面接触，而与两定位销或其中任一定位销不接触，则判定该被测面板严重变形。此测量方法应用不方便且测量结果不量化，如若需获知变化量还需配合厚度规测量，即通过插入间隙的厚度规数值来帮助界定，此种方法测量效率低、测量误差大。

发明内容

鉴于以上内容，有必要提供一种便于测量且测量结果精确的平面度测量装置。

一种平面度测量装置，用来测量平板型待测元件的平面度，包括一用来支撑所述待测元件的一边的平台、一垂直安装于所述平台的支架及一用于测量待侧元件的平面度而安装于支架的适当位置处的测量系统，所述测量系统包括一测量部、一带可弹性伸缩的表杆的测量表及一操控所述测量部运动的微调元件，所述测量部的一端抵顶于所述测量表的表杆，测量时，拧紧所述微调元件使其推动所述测量部向所述待测元件方向移动而与待测元件接触，并使抵顶于所述测量部的表杆也向所述待测元件方向弹性伸出，所述测量表根据表杆伸出的长度显示测量部的移动距离，从而测得所述待侧元件的平面度。

上述测量部可移动的抵顶于测量表，通过调整微调元件来带动测量部的运动，使其与待测元件接触，从而直接观察测量表的变化量即可得到测量部的位移，进而可得出待测元件的平面变形量，从而方便、快速地得到测量结果。

附图说明

下面结合附图及较佳实施方式对本发明作进一步的详细描述：

图1是本发明平面度测量装置的较佳实施方式的立体分解图。

图2是图1中的测量系统的立体分解图。

图3是图1的立体组装图。

图4是本发明平面度测量装置的较佳实施方式测量一待测元件时的使用状态图。

具体实施方式

请参照图1，本发明平面度测量装置的较佳实施方式包括一操作架10、一第一定位部30、一第二定位部50、一测量系统70及一微调元件(本实施方式中为微调螺丝80)。

操作架10包括一平台12、一垂直安装于平台12的“U”形支架14及一连接于支架14顶端的横梁16。支架14包括两竖置平行的导轨142，支架14每一侧面邻近平台12的部位均设有一滑动槽140。横梁16的两端各设一螺纹孔160，两头部为圆弧面的测量头20分别收容于横梁16的两螺纹孔160。

第一定位部30呈倒置的“L”形，包括第一水平部及自第一水平部的一端垂直延伸的第二水平部，其中第一水平部开设一上下贯穿的通孔32，第一水平部的端壁上开设一螺孔35，第二水平部于与螺孔35相对的一侧壁上凸设一弧形的第一定位块34。

第二定位部50呈方形，包括两相对的侧壁，其中一侧壁上开设一卡口52，另一侧壁上凸设一弧形的第二定位块54，第二定位部50上开设一贯穿该两相对侧壁且与卡口52相通的螺孔56。