[实用新型]天线测量系统及其发射天线结构无效

专利信息
申请号: 200720050904.0 申请日: 2007-04-28
公开(公告)号: CN201037856Y 公开(公告)日: 2008-03-19
发明(设计)人: 周信辉 申请(专利权)人: 佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司神达电脑股份有限公司
主分类号: G01R29/10 分类号: G01R29/10;H01Q19/12
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 528308广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 天线 测量 系统 及其 发射 结构
【权利要求书】:

1.一种天线测量系统,其特征在于,包含:

一待测天线;

一反射组件,具有一抛物面,以供反射一无线电波;

一发射源,用于朝该抛物面发出该无线电波;以及

一阻抗结构,连接于该抛物面外缘,用以电性匹配该反射组件,以降低该抛物面产生一边缘绕射干扰的程度;

其中,藉由该反射组件使该无线电波成为一平面波,以供该待测天线接收,作为测量该待测天线的依据。

2.根据权利要求1所述的天线测量系统,其特征在于:该天线测量系统设于一测试空间中,该测试空间中的所有壁面铺满吸波组件,以防止讯号干扰。

3.根据权利要求1所述的天线测量系统,其特征在于:该阻抗结构为贴片电阻。

4.根据权利要求1所述的天线测量系统,其特征在于:该平面波适用于测试该待测天线的远场场型。

5.根据权利要求1所述的天线测量系统,其特征在于:该待测天线为主动、被动棒状天线、环路天线、功率双锥天线、对数螺旋天线或喇叭天线。

6.一种发射天线结构,适用于所述天线测量系统中,其特征在于,该发射天线结构包括:

一反射组件,具有一抛物面,以供反射一无线电波;

一发射源,用于朝该抛物面发出该无线电波;以及

一阻抗结构,连接于该抛物面外缘,用以电性匹配该反射组件,以降低该抛物面外缘产生一绕射干扰的程度;

其中,藉由该反射组件使该无线电波转换为一平面波,用以提供该天线测量系统测量一待测天线。

7.根据权利要求6所述的发射天线结构,其特征在于:该天线测量系统设于一测试空间中,该测试空间中的所有壁面铺满吸波组件,以防止讯号干扰。

8.根据权利要求6所述的发射天线结构,其特征在于:该阻抗为贴片电阻。

9.根据权利要求6所述的发射天线结构,其特征在于:该平面波适用于测试该待测天线的远场场型。

10.根据权利要求6所述的发射天线结构,其特征在于:该待测天线为主动、被动棒状天线、环路天线、功率双锥天线、对数螺旋天线或喇叭天线。

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