[实用新型]低阻单晶寿命测试仪有效
| 申请号： | 200720059959.8 | 申请日： | 2007-11-23 |
| 公开（公告）号： | CN201110882Y | 公开（公告）日： | 2008-09-03 |
| 发明（设计）人： | 王昕;王世进;张郁华 | 申请（专利权）人： | 广州市昆德科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/265 | 分类号： | G01R31/265 |
| 代理公司： | 广州市华学知识产权代理有限公司 | 代理人： | 裘晖 |
| 地址： | 510640广东省广州市天河区五山*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 低阻单晶 寿命 测试仪 | ||
1、一种低阻单晶寿命测试仪，包括样品测试台、主机和示波器，所述主机包括高频源、红外发光管、取样器、检波器和宽频放大器，其特征在于：所述样品测试台设置于主机的上面，主机与示波器连接，所述样品测试台包括样品测试台底座、测试台支柱、光源电极台、样品台和样品台悬臂，所述样品测试台底座上设有光源电极台和测试台支柱，所述测试台支柱底部设置有防滑套，测试台支柱上部设置有样品台悬臂，测试台支柱与样品台悬臂通过锁紧螺栓锁定，样品台悬臂与样品台连接，所述样品台悬臂侧部依次设有阻力调节旋钮、粗调手轮和微调手轮，样品台中间设有样品测量口，所述光源电极台中设有两弹性电极，两弹性电极中间为红外发光管出光口。
2、根据权利要求1所述的一种低阻单晶寿命测试仪，其特征在于：所述弹性电极的形状为V型、U型或S型。
3、根据权利要求1所述的一种低阻单晶寿命测试仪，其特征在于：所述的防滑套上设有防滑套锁紧螺栓。
4、根据权利要求1所述的一种低阻单晶寿命测试仪，其特征在于：所述样品台采用塑料或金属制成；其厚度为1.0～3.0mm。
5、根据权利要求1所述的一种低阻单晶寿命测试仪，其特征在于：所述样品台上设有样品盖。
6、根据权利要求1所述的一种低阻单晶寿命测试仪，其特征在于：所述样品盖厚度为2～8mm。
7、根据权利要求1所述的一种低阻单晶寿命测试仪，其特征在于：所述样品测量口的大小不小于20×40mm。
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