[实用新型]集成微结构的大功率发光二极管封装结构有效
申请号: | 200720073753.0 | 申请日: | 2007-08-17 |
公开(公告)号: | CN201117676Y | 公开(公告)日: | 2008-09-17 |
发明(设计)人: | 刘胜;陈明祥;谢庆明;罗小兵;刘宗源;王恺;甘志银 | 申请(专利权)人: | 广东昭信光电科技有限公司 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00;H01L23/473 |
代理公司: | 上海市华诚律师事务所 | 代理人: | 李平 |
地址: | 528251广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 集成 微结构 大功率 发光二极管 封装 结构 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种半导体器件,特别涉及一种集成微结构的大功率发光二极管封装结构。
背景技术
发光二极管(LED)的内量子效率和外量子效率决定着LED总的出光效率和器件亮度。传统光源中,日光灯的发光效率为60-100lm/W,高压钠灯的发光效率为60-120lm/W,而目前大功率氮化镓(GaN)基白光LED(蓝光+荧光粉)的发光效率最高也只有100lm/W,普通的只有30-50lm/W。从LED发光原理来看,LED效率(外量子效率)主要由注入效率、内量子效率和光提取效率三者的乘积来决定。其中,注入效率与材料结构和器件串联电阻有关,内量子效率主要由晶体生长的质量、量子阱的结构和器件制作过程中对有源层的损伤等因素决定。目前室温下GaN基LED的内量子效率较低,只有30%左右,而GaN基大功率LED的光提取效率更低,只有10%左右,使得GaN基大功率LED的效率小于10%,有90%左右的光不能导出而在器件中以热形式消耗掉,造成电能浪费,更严重的是使器件发热、升温导致LED光效急剧下降,同时芯片、焊线和封装材料严重老化,缩短寿命。
由以上分析可以看到,散热问题是影响LED获得广泛应用的难题之一。一般LED封装结构如图1所示。发光芯片通过焊膏焊接在基板上,基板与热沉之间以热界面材料相接,故散热路径为:发光芯片-基板-热沉-环境。常用的基板一般为MCPCB板,含有一层绝缘层,其热阻较高,散热效果受到影响。基板与热沉之间选用的热界面材料,亦有一定热阻,增加了散热难度。热量传导至热沉以后,现行的被动散热如图1所示,通过散热片把热量散发至环境中。此种方法在LED功率较小时散热效果尚能匹配,但随着LED功率的不断提高,散热量增加,这类被动散热结构已不能满足LED的散热要求。
发明内容
本实用新型的目的是针对已有技术中存在的缺陷,提供了一种集成微结构的大功率发光二极管封装结构。
本实用新型主要包括:陶瓷片、上铜片和下铜片,其特征在于所述上铜片和下铜片通过直接键合铜(DBC Directed Bonded Cooper)工艺键合在陶瓷片上下表面,并且在下铜片表面或内部设有微通道。本实用新型的优点是发光芯片直接焊接在金属焊盘上,陶瓷基板上下表面都有铜层,热失配应力小,制作成本低,结构紧凑,有利于提高封装密度,并且微通道中可通入冷却循环液,大大提高了封装散热能力。
附图说明
图1现有的LED封装结构平面图;
图2a上铜片截面剖视图;
图2b下铜片加工前的截面剖视图;
图2c下铜片加工后的截面剖视图;
图2d上下铜片与陶瓷片键合后的截面剖视图;
图2e金属腐蚀工艺加工后的结构截面剖视图;
图3a金属扩散键合工艺加工后的结构截面剖视图;
图3b上下铜片与陶瓷片键合后的截面剖视图;
图3c金属腐蚀工艺加工后的结构截面剖视图;
图4LED封装结构的截面剖视图。
11发光芯片、12固晶层、13金属膜层、14绝缘层、15金属基板、16焊接(粘结)层、17热沉、18含荧光粉硅胶层、19金线、20封装胶层、21上铜片、22下铜片、23微通道、24陶瓷片、25芯片区和电路、31上铜片、32下铜片、33微通道、34铜片、35陶瓷片、36复合铜片、37芯片区和电路、41发光芯片、42固晶层、43芯片区和电路、44陶瓷片、45微通道、46下铜片、47含荧光粉硅胶层、48金线、49封装硅胶层。
具体实施方式
实施例一
下面结合附图进一步说明本实用新型的实施例:
参见图2a、图2b,选择两块厚度合适的高纯无氧铜铜片,上铜片21厚度为0.3mm,下铜片22厚度为5mm。
采用机械加工技术,在下铜片22表面制作截面为正方形的微通道23,正方形边长为2mm,参见图2c。微通道可布置为蛇形或M形单层或多层结构。
采用直接键合铜(DBC)工艺将两块铜片同时键合到一块氧化铝陶瓷片24的上下表面,陶瓷片24厚度为0.63mm,参见图2d。
采用金属腐蚀工艺,在上铜片21上形成芯片区和电路结构25(同时保护下铜片22),即制备出集成微通道结构的封装基板,参见图2e。
实施例二
实施例二与实施例一相同,所不同是先选择两块厚度合适的高纯无氧铜铜片,其中上铜片31厚度为1mm,下铜片32厚度为3mm。
采用机械加工工艺在下铜片32表面制作出正方形微通道33,正方形边长为2mm。并采用金属扩散键合工艺把两块铜片键合到一起,参见图3a。
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