[实用新型]SOT型封装元器件测试及老化试验插座无效
| 申请号： | 200720109302.8 | 申请日： | 2007-05-10 |
| 公开（公告）号： | CN201122166Y | 公开（公告）日： | 2008-09-24 |
| 发明（设计）人： | 曹宏国 | 申请（专利权）人： | 曹宏国 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 313119浙江省*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | sot 封装 元器件 测试 老化试验 插座 | ||
【权利要求书】：
1. 一种适用于SOT型封装元器件测试及老化试验插座，其特征是：它是由插座体、接触件和锁紧装置三个部分统一组成，插座体由座(3)、盖(5)和钩(7)组成，选用进口的耐高温型工程塑料经高温注塑成型工艺技术制造成插座本体，接触件由两个前脚(1)和一个后脚(2)与被试器件引出线相对应并安装于插座体的座中。
2. 根据权利要求1所述的SOT型封装元器件测试及老化试验插座，其特征是：插座体和接触件是一个统一整体，接触件由一面两个前脚(1)和一面一个后脚(2)、节距为0.95mm的镀金簧片组成，并与被试器件引出线相对应，分别安装于座(3)的凹槽中内。
3. 根据权利要求1所述的SOT型封装元器件测试及老化试验插座，其特征是：插座的锁紧装置由座(3)、钩(7)组成，形成以翻盖式结构把接触件设计成自动扣紧锁式、零插拔力结构。
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