[实用新型]625线陶瓷针栅阵列元器件老化试验插座无效
| 申请号： | 200720109304.7 | 申请日： | 2007-05-10 |
| 公开（公告）号： | CN201113133Y | 公开（公告）日： | 2008-09-10 |
| 发明（设计）人： | 曹宏国 | 申请（专利权）人： | 曹宏国 |
| 主分类号： | H01R33/74 | 分类号： | H01R33/74;H01R13/46;H01R13/629;H01R13/639;G01R1/04 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 313119浙江省*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 625 陶瓷 阵列 元器件 老化试验 插座 | ||
【权利要求书】：
1. 一种适用于625线陶瓷针栅阵列元器件老化试验插座，其特征是：它是由插座体、接触件和锁紧装置三个部分统一组成，插座体由座和盖组成，插座体选用进口的耐高温型特种高温工程塑料，经高温注塑成型工艺技术制造而成，接触件与被试器件引出线相对应并安装于插座体的座中，锁紧装置安装于插座体的座中。
2. 根据权利要求1所述的625线陶瓷针栅阵列元器件老化试验插座，其特征是：插座体、接触件和锁紧装置是一个统一整体，接触件由中心对称的625线、2.54mm间距的v形镀金簧片排列成阵列形式组成，并安装于座的内。
3. 根据权利1所述的625线陶瓷针栅阵列元器件老化试验插座，其特征是：插座的锁紧装置由滑块、手柄组成，以推拉式结构把接触件设计成自锁式、零插拔力结构。
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