[实用新型]625线陶瓷针栅阵列元器件老化试验插座

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种微电子元器件老化测试装置，尤其能对625线陶瓷针栅阵列元器件可靠性进行高温老化试验和测试的插座。

背景技术

目前，在我国可靠性技术领域，国内老化试验插座系列产品本体材料采用的是非耐高温普通工程塑料，在对被测器件进行测试时，老化工作温度仅为-25℃～+85℃，且老化工作时间短暂，插座接触件表面镀银，结构简单，存在着与被测器件之间接触电阻大、耐环境弱、一致性不高和机械寿命不长的重大缺陷。在我国微电子元器件可靠性领域，陶瓷针栅阵列器件高端技术产品，因无高温老化可靠性试验的专用装置，不能满足对器件性能指标的测试要求，容易引发工程质量事故。

发明内容

为克服现有老化试验插座在接触电阻、耐高温和一致性以及使用寿命方面的不足，本实用新型提供一种高温老化测试试验插座。该插座不仅能将老化工作温度范围从-25℃～+85℃扩大到-65℃～+150℃，一次老化连续工作时间长达500h(150℃)以上，插拔寿命5000次以上，而且在对被测试器件进行高温老化试验和性能测试过程中，具有接触电阻小、一致性好、可靠性高、零插拔力、表面耐磨和使用方便的优点，大大提高了插座的可靠性和使用寿命。

本实用新型解决技术问题所采用的技术方案是：按照625线阵列型的结构设计和尺寸要求，将插座设计成三大组成部分，即插座体、接触件和锁紧装置。插座体由座、盖组成，选用进口的耐高温型特种高温工程塑料，经高温注塑成型工艺技术制造成插座本体，用于被试器件的定位安装；接触件由铍青铜材料经线切割机切割下料及打弯成型，经300℃高温淬火处理及电镀硬金层技术表面镀金，采用按中心对称、阵列形式排列、横向自动锁紧和零插拔力结构安装于插座体的座中；锁紧装置由滑块和手柄组成，使当手柄受力向下翻转90°时，由于手柄的径向尺寸差，使滑块产生位移，促使接触件上端闭紧，接触件自动锁紧被试器件引出线以达到锁紧被试器件的效果，通电后进行高温老化试验和性能测试。这种以中心对称、阵列形式排列、横向锁紧式和零插拔力为设计结构的试验插座，彻底解决了在高温老化试验和性能测试过程中的接触电阻大、耐环境弱、一致性差和机械寿命不长的技术难点，并可以满足625线内被试器件不同引线的要求。

该产品接触件和绝缘体选择了适当材料，设计、工艺先进合理，具有横向锁紧、耐环境、可靠性高、零插拔力、系列化和通用化的特点。

本实用新型的有益效果是：该实用新型的研制成功填补了国内空白，替代进口，为国家节约了外汇，为用户节约了成本。该产品经性能测试，技术指标达到了国内领先水平，不但可以满足我国新型军用同类625线封装元器件和其它同类陶瓷针栅阵列器件的高温老化试验，也可以满足该类产品性能测试的要求；同时也适用于各类民用电子元器件。而该实用新型的研制成功为整个系列封装型式老化及测试插座提供了依据和参考。所以，该型产品的市场比较广阔，可以获得较大的经济效益和军事效益。

附图说明

下面结合附图和实例对本实用新型作进一步说明。

图1是本实用新型的外形结构纵剖面构造图。

图2是本实用新型外型结构俯视图。

图1：1座  2压簧  3簧片(接触件)  4滑块  5盖  6手柄

图2：7不锈钢十字开槽圆头螺钉

具体实施方式

在图1中，第一步：先将滑块4放在座1上，并与座1上的孔对齐；第二步：再将接触件即簧片3按与被试器件引出线相对应的方式排列成阵列形式装入座1内；第三步：装上压簧2，将手柄6嵌于座1和滑块4之间；最后将盖5按孔摆在座1上，用图2中的不锈钢十字开槽圆头螺钉7将图1中盖5和座1固定。

该方案中，插座体用于被试器件的安装定位，接触件由镀金簧片2.54mm间距按中心对称、阵列形式排列、横向自动锁紧和零插拔力结构安装于插座体的座中，与被试器件引出线相对应，锁紧装置由滑块、手柄组成，安装于插座体中。当手柄处于初始位置时，接触件张开，放入被试器件后，手柄受力向下翻转90°时，接触件自动锁紧被试器件。