[实用新型]集成电路测试仪

权利要求书

1.一种集成电路测试仪，其特征在于，所述集成电路测试仪由稳压电源(1)、脉冲发生器(3)、数字电路测试模块(4)、运算放大器测试模块(6)、晶体管输出特性曲线测试模块(8)、器件测试选择控制(9)和错误告警电路(5)组成；其中数字电路测试模块(4)、运算放大器测试模块(6)、晶体管输出特性曲线测试模块(8)的输出各自通过反接二极管(7)共接一个错误告警电路(5)；脉冲发生器(3)的各输出Fx和数字电路测试模块(4)的各输入Fx对应连接；正弦波发生电路(2)的输出接至运算放大器测试模块(6)的输入端；稳压电源1输出+12V、-12V、+5V分别和数字电路测试模块(4)、运算放大器测试模块(6)、晶体管输出特性曲线测试模块(8)的电源端连接，器件测试选择控制(9)由S1~S6六个DIP多位开关构成，分别接至数字电路测试模块(4)的三态输出门电路的控制端或运算放大器测试模块(6)中的测试状态输出的电源控制端，多位开关的各位顺序控制本行的各个测试插座。

2.根据权利要求1所述集成电路测试仪，其特征在于，所述数字电路测试模块(4)由1～N个组成，其中，在基本配置下N＝30。

3.根据权利要求2所述集成电路测试仪，其特征在于，所述N在扩充配置下N＞30。

4.根据权利要求1所述集成电路测试仪，其特征在于，所述脉冲发生器(3)由脉冲发生电路和脉冲分频电路组成。

5.根据权利要求1所述集成电路测试仪，其特征在于，所述数字电路测试模块的组成是脉冲发生器(3)的脉冲分频电路输出Fx经隔离电路(18)分别连接在标准电路(19)和被测电路(17)的输入端，被测电路(17)的输出经幅度判别电路(10)的输出与标准电路(19)的输出同连接至比较器(11)，比较器(11)的输出经过串联的或门(20)、选通脉冲(12)、复位触发器(13)、三态输出电路(15)至状态输出；在三态输出电路(15)的EN端连接测试状态控制(16)，在三态输出电路(15)的输出还连接状态显示器(14)。

6.根据权利要求1所述集成电路测试仪，其特征在于，所述运算放大器测试模块的组成是在被测电路(22)的输入端分别连接接入交流信号源(23)和“0”信号，被测电路(22)的输出经并联的增益检测(21)、失调电压检测(25)后，其输出通过的或门(20)、三态输出电路(15)至状态输出；在三态输出电路(15)的EN端连接测试状态控制(16)。

7.根据权利要求1所述集成电路测试仪，其特征在于，所述晶体管输出特性曲线测试模块的组成是矩形波振荡电路(26)的输出分别连接锯齿并产生电路(27)和阶梯波产生电路(28)，阶梯波产生电路(28)输出通过一电阻连接至被测试晶体管(29)的基极，锯齿并产生电路(27)输出通过一电阻连接至被测试晶体管(29)的集电极，被测试晶体管(29)的发射极接地；被测试晶体管(29)的集电极电阻两端连接电压变换电路(30)输入端，电压变换电路(30)的输出接示波器(31)的Y柱，被测试晶体管(29)的集电极接示波器(31)的X柱。