[实用新型]集成电路测试仪

说明书

技术领域

本实用新型属于电子元器件测试装置范围，特别涉及应用于高等院校电子技术实验中集成电路、晶体管等元器件测试及生产的一种集成电路测试仪。

背景技术

集成电路芯片的测试是集成电路芯片制造的重要环节，其测试内容多达数十项，每项测试都是在严格的测试条件下进行，各项参数、技术指标都有明确的要求，并根据测试结果对产品进行分类。用于器件生产的测试系统是专用的，每台测试设备和测试仪器均价格昂贵，同时对测试环境的要求也相当高。生产电子产品的一般用户，尤其是高等院校科研和教学不可能采用这样复杂、昂贵的测试系统进行电子元器件的测试。例如，我们查询到市场上销售的ICT3000VXI数模混合集成电路测试系统。该系统能够在计算机控制下完成复杂芯片的各项技术指标测试，售价为45.5万人民币。这样的测试系统功能冗余、价格昂贵、各台仪器彼此不独立，不适合普通高等学校科研与教学应用，价格上也是普通高等学校难以承受的。

在当前市场上，也有为使用器件的用户设计生产较简易的芯片检测设备。这类设备大都是按集成电路的种类分别设计的，即一种测试设备专门测试模拟器件，一种测试设备专门测试数字器件等等，它们的缺点主要是一种测试设备不能测试不同类型的器件，且一次只能测试一个芯片，所测芯片的型号受到很大的限制，与用户的要求有一定的差距。因此，对于需要进行大量、不同类型集成电路测试的用户，是十分不方便的，且测试成本较高。本文作者使用过多种类似的芯片测试设备，(如西尔特南京中国有限电子公司生产的SUPERPRO/L+编程器等)发现其存在的问题很多，分析表明，其根本原因是其测试原理及方法上有缺陷。

综上所述，目前市场上尚没有一种适合于在高等院校教学工作所需要的，能够同时测量不同类型(模拟、数字)、不同型号，且一次测量数几十个集成电路芯片的测试设备。所以，我们投入很大力量，开发设计出这种特殊的测试设备。

实用新型内容

本实用新型的目的是针对现有技术的不足而提供一种集成电路测试仪。其特征在于，所述集成电路测试仪由稳压电源1、脉冲发生器3、数字电路测试模块4、运算放大器测试模块6、晶体管输出特性曲线测试模块8、器件测试选择控制9和错误告警电路5组成；其中数字电路测试模块4、运算放大器测试模块6、晶体管输出特性曲线测试模块8的输出各自通过反接二极管7共接一个错误告警电路5；脉冲发生器3的各输出Fx和数字电路测试模块4的各输入Fx对应连接；正弦波发生电路2的输出接至运算放大器测试模块6的输入端；稳压电源1输出+12V、-12V、+5V分别和数字电路测试模块4、运算放大器测试模块6、晶体管输出特性曲线测试模块8的电源端连接，器件测试选择控制9由S1~S6六个DIP多位开关构成，分别接至数字电路测试模块4的三态输出门电路的控制端及运算放大器测试模块6中的测试状态输出的电源控制端。多位开关的各位顺序控制本行的各个测试插座。

所述数字电路测试模块4由1～N个组成，其中，在基本配置下N＝30，在扩充配置下N＞30。

所述脉冲发生器3由脉冲发生电路和脉冲分频电路并联组成。

所述数字电路测试模块的组成是脉冲发生器3的脉冲分频电路输出Fx经隔离电路18分别连接在标准电路19和被测电路17的输入端，被测电路17的输出经幅度判别电路10的输出与标准电路19的输出同连接至比较器11，比较器11的输出经过或门20、选通脉冲与门12、复位触发器13、三态输出电路15至状态输出；在三态输出电路15的选统端EN连接测试状态控制开关9，三态输出门电路15的输出还连接状态显示器14。

所述运算放大器测试模块的组成是在被测电路22的输入端分别连接接入交流信号源23和“0”信号，被测电路22的输出经并联的增益检测21、失调电压检测25后，其输出通过的或门20、三态输出电路15至状态输出；在三态输出电路15的选统端EN端连接测试状态控制16。

所述S1～S6六个DIP多位开关构成，多位开关的各位顺序控制本行的各个测试插座。

所述晶体管输出特性曲线测试模块的组成是矩形波振荡电路26的输出分别连接锯齿并产生电路27和阶梯波产生电路28，阶梯波产生电路28输出通过一电阻连接至被测试晶体管29的基极，锯齿并产生电路27输出通过一电阻连接至被测试晶体管29的集电极，被测试晶体管29的发射极接地；被测试晶体管29的集电极电阻两端连接电压变换电路30输入端，电压变换电路30的输出接示波器31的Y柱，被测试晶体管29的集电极接示波器31的X柱。

本实用新型的有益效果是