[实用新型]一种嵌入式存储器内建自测试结构

权利要求书

1、一种嵌入式存储器的内建自测试结构，包括MBIST控制器(1)、至少2个存储器以及与各存储器对应的比较器，其特征在于，所述该内建自测试结构还包括合成模块(5)；其中

所述每个存储器配置有一个比较器，组成一个相对独立的测试单元，所述各测试单元与MBIST控制器(1)并行，且由MBIST控制器(1)向各测试单元输出控制信号，所述各测试单元将各自比较结果输入到合成模块(5)中，由合成模块(5)对所述比较结果整合后得到一个总的比较结果，并将所述的总的比较结果输入到MBIST控制器(1)。

2、如权力要求1所述的一种嵌入式存储器的内建自测试结构，其特征在于，MBIST控制器(1)生成的各测试单元所需信号包括：读写使能信号、片选信号、输出使能信号、测试地址信号和测试激励数据，与同一MBIST控制器(1)相连的各测试单元所述控制信号可共用。

3、如权力要求1所述的一种嵌入式存储器的内建自测试结构，其特征在于，所述各测试单元中的存储器的地址大小或字宽可以不相同。

4、如权力要求3所述的一种嵌入式存储器的内建自测试结构，其特征在于，所述MBIST控制器(1)以所述各测试单元存储器中最大容量和最大字宽的存储器标准来生成测试地址信号和测试激励数据，对于容量小、字宽小的存储器，只需将MBIST控制器(1)输出的测试地址和测试激励数据的相应低位数据输入到所述存储器中。

5、如权力要求4所述的一种嵌入式存储器内建自测试的结构，其特征在于，在合成模块(5)中，对所述各测试单元输出的比较结果进行与操作，得到所述总的比较结果。

6、如权力要求5所述的一种嵌入式存储器内建自测试的结构，其特征在于，在合成模块(5)中，当容量小的存储器被测试完成后，与该存储器对应的比较器输出的比较结果不参与整合。

7、如权力要求5所述的一种嵌入式存储器的内建自测试结构，其特征在于，MBIST控制器(1)根据合成模块(5)输入的总的比较结果进行判断：若无报错，则继续进行测试直至测试完成；若有报错，则将fail和done信号同时置高，整个测试停止。