[实用新型]一种片式电容器浪涌及老化测试装置

权利要求书

1、一种片式电容器浪涌及老化测试装置，包括主电路回路、采样监测回路、信号处理回路和功能控制回路，其特征在于，所述主电路包括恒流恒压电源(1)，恒流恒压电源(1)的正极依次与第一主继电器(9)、试验板(2)、继电器组(4)、波段开关(7)、采样电阻(3)电连接，恒流恒压电源(1)的负极与第二主继电器(8)电连接，所述试验板(2)的另一输出端依次与放电继电器(5)、保护电阻(6)电连接。

2、根据权利要求1所述的片式电容器浪涌及老化测试装置，其特征在于，所述试验板(2)由16个小试验板(Cx)并联组成，所述继电器组(4)由16块继电器(J｀)并联组成，所述波段开关(7)由16位2刀波段开关(B)并联组成，所述采样电阻(3)中的16个浪涌电阻(R｀)的一端与对应的2刀波段开关(B)的第一刀波段电连接，16个浪涌电阻(R｀)的另一端接输出端(U)，所述采样电阻(3)中的16个老化电阻(R｀｀)的一端分别与对应的2刀波段开关(B)的第二刀波段、对应的浪涌电阻(R｀)的另一段电连接，所述16个老化电阻(R｀｀)的另一端接输出端(U)。

3、根据权利要求1所述的片式电容器浪涌及老化测试装置，其特征在于，所述采样监测回路中的采样电阻(3)的一端接试验板(2)，另一端与第二电阻(R2)、二极管(D)、第一电容器(C1)并联后的一端与放大器(IC1)的正极连接，所述采样电阻(3)的另一端与第二电阻(R2)、二极管(D)、第一电容器(C1)并联后的另一端接地，所述采样电阻(3)与试验板(2)的旁路接第一电阻(R1)后，与放大器(IC1)的正极连接，放大器(IC1)的负极依次接第三电阻(R3)、放大器(IC1)的输出端，所述放大器(IC1)的输出端依次接第四电阻(R4)、比较器(IC2)的负极，所述第四电阻(R4)与比较器(IC2)的负极的旁路接第二电容器(C2)，比较电压源(V_raf)依次接第五电阻(R5)、比较器(IC2)的正极，所述比较器(IC2)的输出端的一端依次接第七电阻(R7)、晶体管(IC3)的基极、电源(Vcc)，所述比较器(IC2)的输出端的另一端依次接第六电阻(R6)、电源(Vcc)，所述晶体管(IC3)的集电极的一端依次接第八电阻(R8)、电源(Vcc)，所述晶体管(IC3)的集电极的另一端接第一输出端(U_out)。

4、根据权利要求3所述的片式电容器浪涌及老化测试装置，其特征在于，所述比较电压源(V_raf)接可调电阻(R_w)，所述可调电阻(R_w)的一端接电压源(Vcc)，所述可调电阻(R_w)的另一端第十七2刀波段开关(B｀)，所述第十七2刀波段开关(B｀)的一端依次接第九电阻(R9)、第十电阻(R10)、大地，所述第十七2刀波段开关(B｀)的另一端依次接第十电阻(R10)、大地。

5、根据权利要求1所述的片式电容器浪涌及老化测试装置，其特征在于，所述功能控制回路中的继电器控制芯片(81C55)的PC0、PC1、PC2、PC3端口与键盘连接，所述继电器控制芯片(81C55)的AD0、AD1、AD2、AD3、AD4、AD5、AD6、AD7端口分别与单片机(89C52)的P0.0、P0.1、P0.2、P0.3、P0.4、P0.5、P0.6、P0.7端口相连，所述键盘的一个输出端与单片机(89C52)的P1.4、P1.5、P1.6、P1.7端口相连，所述键盘的另一个输出端与单片机(89C52)的P3.3端口相连，所述单片机(89C52)的P3.1端口与显示芯片(MAX7219)的DIN端口相连，所述单片机(89C52)的P3.0端口与显示芯片(MAX7219)的CLK端口相连，所述单片机(89C52)的P2.2端口与显示芯片(MAX7219)的LOAD端口相连。