[实用新型]一种片式电容器浪涌及老化测试装置

说明书

技术领域

本实用新型属于电器测试设备技术领域，具体涉及一种片式电容器浪涌及老化测试装置。

背景技术

随着电子产品数字化、智能化和小型化的发展趋势，表面贴装片式电容器元件大量应用于各种电路中，作为电路基本元件电容器的质量是保证系统的性能和可靠性重要因素之一，特别是近几年来，在高频电路中电容器的动态参数可靠性显得越来越重要。但是，目前国内片式电容器生产厂家尚无大容量高温浪涌试验设备，主要靠进口的老化试验设备进行元件筛选。进口设备不仅操作复杂，也不能进行老化筛选的同时完成高温浪涌测试。因此开发大容量的、集浪涌测试与老化试验为一体的测试系统，将为片式电容器生产提供了一个更新的快速高效的检测手段。

发明内容

本实用新型的目的是提供一种片式电容器浪涌及老化测试装置，适用于大容量的集高温浪涌与老化为一体的测试。

为实现上述目的，本实用新型所采用的技术方案是，一种片式电容器浪涌及老化测试装置，包括主电路、采样监测、信号处理和功能控制回路，主电路包括恒流恒压电源，恒流恒压电源的正极依次电连接试验板、继电器组、波段开关、采样电阻，恒流恒压电源的负极与主继电器电连接，试验板的另一输出端依次电连接放电继电器、保护电阻。

该技术方案进一步描述如下：试验板由16个小试验板并联组成，继电器组由16块继电器并联组成，波段开关由16位2刀波段开关并联组成，采样电阻中的16个浪涌电阻的一端与对应的2刀波段开关的第一刀波段电连接，16个浪涌电阻的另一端接输出端，采样电阻中的16个老化电阻的一端分别与对应的2刀波段开关的第二刀波段、对应的浪涌电阻的另一段电连接，16个老化电阻的另一端接输出端。

采样监测回路中的采样电阻的一端接试验板，另一端与第二电阻、二极管、第一电容器并联后的一端与放大器的正极连接，采样电阻的另一端与第二电阻、二极管、第一电容器并联后的另一端接地，采样电阻与试验板的旁路接第一电阻后，与放大器的正极连接，放大器的负极依次接第三电阻、放大器的输出端，放大器的输出端依次接第四电阻、比较器的负极，第四电阻与比较器的负极的旁路接第二电容器，比较电压源依次接第五电阻、比较器的正极，比较器的输出端的一端依次接第七电阻、晶体管的基极、电源，比较器的输出端的另一端依次接第六电阻、电源，晶体管的集电极的一端依次接第八电阻、电源，晶体管的集电极的另一端接第一输出端。

比较电压源接可调电阻，所述可调电阻的一端接电压源，所述可调电阻的另一端第十七2刀波段开关，所述第十七2刀波段开关的一端依次接第九电阻、第十电阻、大地，所述第十七2刀波段开关的另一端依次接第十电阻、大地。

功能控制回路中的继电器控制芯片的PC0、PC1、PC2、PC3端口与键盘连接，继电器控制芯片的AD0、AD1、AD2、AD3、AD4、AD5、AD6、AD7端口分别与单片机的P0.0、P0.1、P0.2、P0.3、P0.4、P0.5、P0.6、P0.7端口相连，键盘的一个输出端与单片机的P1.4、P1.5、P1.6、P1.7端口相连，键盘的另一个输出端与单片机的P3.3端口相连，所述单片机的P3.1端口与显示芯片的DIN端口相连，单片机的P3.0端口与显示芯片的CLK端口相连，单片机的P2.2端口与显示芯片的LOAD端口相连。

本实用新型的测试装置将高温浪涌测试和高温老化测试两个功能集成在一起，一次测试容量大，自动化程度高，操作简单，可靠性高，参数可设置性强。

附图说明

图1是本实用新型的主回电路原理图；

图2是本实用新型的采样检测电路原理图；

图3是本实用新型的功能控制电路原理图；

图4中，a是本实用新型的主程序流程图，b是本实用新型的键盘处理子程序流程图，c是本实用新型的浪涌老化处理子程序流程图。

图中，1、恒流恒压电源，2、试验板CX，3、采样电阻，4、继电器组J′，5、放电继电器J₃，6、保护电阻R，7、波段开关，8、第二主继电器J₂，9、第一主继电器J₁。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施方式对本实用新型进行详细说明。