[发明专利]测试装置以及测试方法

权利要求书

1、一种测试装置，其对用于存储在每一页附加有错误订正符号的数据 流的被测试存储器进行测试，包括：

测试处理部，其对于每一个作为错误订正单位的页，从所述被测试存 储器读取存储于该页的所述数据流；

逻辑比较器，将从所述被测试存储器中读取的所述数据流所包含的各 比特值与该比特的期望值相比较；

第一失效存储器，根据所述逻辑比较器的比较结果，对于所述被测试 存储器的每个存储单元，存储表示该存储单元是否合格的比特合格/失效信 息；

数据错误计数部，对每一页统计与所述期望值不一致的比特数；

页分类部，对于将所述被测试存储器根据质量进行分类的多个级别的 每一个，对每一页判断与所述期望值不一致的比特数是否满足该级别的条 件；

第二失效存储器，根据所述页分类部的判断结果，对于所述多个级别 的每一个，存储表示各页是否合格的页合格/失效信息；

输出部，其对于所述多个级别的每一个，输出每个存储单元的所述比 特合格/失效信息时，以具有与所述存储单元对应的比特的页满足该级别条 件的所述页合格/失效信息存储在所述第二失效存储器中为条件，将从所述 第一失效存储器输出的、表示该存储单元不合格的所述比特合格/失效信息 变更为表示该存储单元合格的值并进行输出。

2、如权利要求1所述的测试装置，还具有：

地址指示部，其依次输出第一地址，该第一地址用于依次读取存储在 所述第一失效存储器中的、每个存储单元的所述比特合格/失效信息；

地址转换部，其输出第二地址，该第二地址是用于从所述地址指示部 输出的地址中取出一部分的比特，并读取存储于所述第二失效存储器中的、 具有与该地址对应的存储单元的页的所述页合格/失效信息，

所述输出部将所述页合格/失效信息和所述比特合格/失效信息的逻辑 积作为所述存储单元的所述比特合格/失效信息进行输出，所述页合格/失 效信息是从所述第二失效存储器内的所述第二地址读取的，当该页为不合 格时为逻辑值H，当该页为合格时为逻辑值L，所述比特合格/失效信息是 从所述第一失效存储器内的所述第一地址读取的，当该存储单元为不合格 时为逻辑值H，当该存储单元为合格时为逻辑值L。

3、如权利要求1所述的测试装置，还具有修复处理部，其根据所述输 出部输出的每一页的比特合格/失效信息，进行将不合格的存储单元置换为 预备的存储单元的修复处理。

4、如权利要求1所述的测试装置，所述页分类部具有：

多个寄存器，其对应所述多个级别中的每一个进行设置，对于应分类 到该级别的所述被测试存储器，存储页内所包含的错误数量的上限值；

比较部，分别将存储于所述多个寄存器的多个所述上限值与所述数据 错误计数部的计数值相比较；以及

判断部，其以对于从所述被测试存储器读取的所述数据流的所述计数 值是所述上限值以下为条件，判断存储有该数据流的页满足对应该上限值 的级别的条件。