[发明专利]测试装置以及测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及电子设备的测试装置以及测试方法，尤其涉及对被测试存 储器进行测试的测试装置以及测试方法，该被测试存储器用于存储在每页 上附加了错误订正符号的数据流。本申请与下述的日本申请有关。对于允 许加入参考文献的指定国，将下述申请所记载的内容加入到本申请中并作 为本申请的一部分。

特愿2006-105394号申请日2006年4月6日

背景技术

半导体存储器测试装置在每一测试周期，对被测试存储器的输出与期 望值进行逻辑比较，如果比较的结果一致则检测为合格，如果不一致就检 测为失效。因此，例如，如闪速存储器那样，存储的数据经过多个周期以 页为单位进行读取，并且以页为单位附加错误订正符号的被测试存储器，只 要检测出一次失效，则检测该被测试存储器为不合格。

这里，闪速存储器会有时因产生程序干扰模式而使写入对象的存储单 元以外的数据被改写，产生非永久性的软件错误。对于产生这样的错误，希 望参照下述的非专利文献1。在实际使用状态下，如果产生这样的软件错误， 则控制闪速存储器的存储控制器对从闪速存储器读取的数据进行错误订 正。

从而，在进行闪速存储器的测试时，在产生属于可通过错误订正符号 订正的范围内的错误的情况下，被测试存储器应被判断为合格品。但是，由 于闪速存储器的不同，既有由于上述的软件错误而容易发生错误的情况，也 有一个比特(Bit)的不合格也不存在的情况。因此，对于可正常操作的闪 速存储器，例如，为了决定其用途和销售价格等，有时会希望根据产生错 误的难易度来进行分类。

非专利文献1：作田康司著，[面向Silicon Movie时代的大容量NAND 闪速存储器技术]，FED期刊，Vol.11，No.3，2000年，P76-88

为了根据错误产生的难易度来对闪速存储器进行分类，针对每一页统 计在该页产生的错误的个数，并判断该个数是否满足预定的质量标准。对 于不满足质量标准的页，尝试进行用预备的存储单元置换不合格的存储单 元的修复处理。如果通过修复处理而满足质量标准，则将该闪速存储器分 类到与其质量标准相对应的级别。

为此，可以从测试装置输出关于包含在所有页中的全部存储单元是否 合格的数据，并通过人工或者利用计算机等对该数据进行分析。但是由于 存储单元的数量庞大，所以分析需要花费功夫与时间。由于页的不同，也有 已经满足质量标准而不需要修复处理的情况，因此，存在输出的数据成为 无用的情况。

发明内容

因此，本发明的目的在于提供一种可以解决上述问题的测试装置、电 路以及电子设备。该目的通过本发明的第一技术方案所记载的特征组合来 实现。并且，其他的技术方案提供了本发明更有利的具体实施例。

本发明第一实施方式提供一种测试装置，其对存储每一页上附加了错 误订正符号的数据流的被测试存储器进行测试，包括：测试处理部，其对 于每一个作为错误订正单位的页，从被测试存储器读取存储于该页的数据 流；逻辑比较器，其将从被测试存储器中读取的数据流所包含的各比特值 与该比特的期望值进行比较；第一失效存储器，其根据逻辑比较器的比较 结果，对于被测试存储器的每个存储单元，存储表示该存储单元是否合格 的比特合格/失效信息；数据错误计数部，其对每一页统计与期望值不一致 的比特数；页分类部，对于将被测试存储器根据质量进行分类的多个级别 的每一个，按照每一页判断与期望值不一致的比特数是否满足该级别的条 件；第二失效存储器，其根据页分类部的判断结果，对于多个级别中的每 一个，存储表示各页是否合格的页合格/失效信息；以及输出部，其对于多 个级别的每一个，输出关于每个存储单元的比特合格/失效信息时，以具有 与存储单元对应的比特的页满足该级别条件的页合格/失效信息存储在第 二失效存储器中为条件，将从第一失效存储器输出的表示该存储单元不合 格的比特合格/失效信息变更为表示该存储单元合格的值进行输出。