[发明专利]摄像装置无效
申请号: | 200780001128.8 | 申请日: | 2007-04-05 |
公开(公告)号: | CN101356802A | 公开(公告)日: | 2009-01-28 |
发明(设计)人: | 中俊幸;西泽真人;三宅一永 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
主分类号: | H04N5/232 | 分类号: | H04N5/232;H04N5/335;H04N101/00 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 邸万奎 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 摄像 装置 | ||
1.一种摄像装置,包括:
摄像元件,对成像在光接收面上的图像进行摄像;
抖动校正单元,基于由所述摄像元件以不同的曝光时间摄像的至少两张图像而校正图像的抖动;以及
输出单元,输出作为抖动校正后的图像的抖动校正图像,
所述抖动校正单元包括:
正常曝光图像取得单元,使所述摄像元件曝光正常曝光时间,从而取得正常曝光图像;
短时间曝光图像取得单元,使所述摄像元件曝光比所述正常曝光时间短的时间,取得短时间曝光图像;
抖动校正轨迹计算单元,基于所述正常曝光图像和所述短时间曝光图像,计算对于所述正常曝光图像的抖动校正轨迹;以及
抖动校正图像生成单元,基于所述正常曝光图像和所述抖动校正轨迹,生成抖动校正图像。
2.如权利要求1所述的摄像装置,其特征在于,
所述摄像元件包括由多个像素构成的像素区域,
所述正常曝光图像取得单元和所述短时间曝光图像取得单元,从构成所述像素区域的一部分的特定区域中分别取得所述正常曝光图像和所述短时间曝光图像。
3.如权利要求2所述的摄像装置,其特征在于,
所述正常曝光图像取得单元和所述短时间曝光图像取得单元,通过从所述摄像元件中只读出所述特定区域的数据,分别取得所述正常曝光图像和所述短时间曝光图像。
4.如权利要求2所述的摄像装置,其特征在于,还包括:
高频区域检测单元,检测所述像素区域中的规定的空间频率以上的高频区域作为所述特定区域。
5.如权利要求1所述的摄像装置,其特征在于,还包括:
像素重置单元,在取得了所述短时间曝光图像后的规定的短时间之后,将所述像素区域的全部像素进行重置。
6.如权利要求1所述的摄像装置,其特征在于,
所述抖动校正轨迹计算单元通过将所述正常曝光图像和所述短时间曝光图像进行傅立叶变换,并将所述傅立叶变换后的短时间曝光图像除以所述傅立叶变换后的正常曝光图像,计算频域中的所述抖动校正轨迹。
7.如权利要求1所述的摄像装置,其特征在于,
所述抖动校正轨迹计算单元将所述正常曝光图像和所述短时间曝光图像进行傅立叶变换,并将所述傅立叶变换后的正常曝光图像除以所述傅立叶变换后的短时间曝光图像,从而计算抖动轨迹,将计算出的抖动轨迹进行线径化,并基于线径化后的抖动轨迹,计算频域中的所述抖动校正轨迹。
8.如权利要求6所述的摄像装置,其特征在于,
所述抖动校正图像生成单元通过将所述频域中的抖动校正轨迹进行傅立叶逆变换,将所述傅立叶逆变换后的抖动校正轨迹和由所述正常曝光图像取得单元所取得的正常曝光图像进行卷积积分,生成所述抖动校正图像。
9.如权利要求6所述的摄像装置,其特征在于,
所述抖动校正图像生成单元将通过所述抖动轨迹计算单元进行了傅立叶变换后的正常曝光图像和所述频域中的抖动校正轨迹进行乘法运算,并将乘法运算后的结果进行傅立叶逆变换,生成所述抖动校正图像。
10.如权利要求1所述的摄像装置,其特征在于,
所述抖动校正轨迹计算单元包括:
图像缩小单元,对所述正常曝光图像和所述短时间曝光图像进行空间分辨率变换而使其缩小;
缩小图像校正单元,基于由所述图像缩小单元分别进行过缩小的正常曝光图像和短时间曝光图像,对该正常曝光图像进行抖动校正;以及
差分图像计算单元,计算从由所述图像缩小单元进行过缩小的正常曝光图像和由所述缩小图像校正单元进行过校正的正常曝光图像的差分所获得的差分图像,
所述抖动校正图像生成单元包括:
差分图像放大加法单元,将所述差分图像放大,并将放大后的差分图像和由所述正常曝光图像取得单元所取得的正常曝光图像进行相加。
11.如权利要求1所述的摄像装置,其特征在于,
所述抖动校正单元具有噪音消除单元,所述噪音消除单元消除所述正常曝光图像和所述短时间曝光图像中包含的噪音,
所述抖动校正轨迹计算单元基于噪音消除后的所述正常曝光图像和所述短时间曝光图像,计算所述抖动校正轨迹。
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