[发明专利]层叠薄膜的制造方法、层叠薄膜的缺陷检测方法、层叠薄膜的缺陷检测装置、层叠薄膜、以及图像显示装置

权利要求书

1.一种层叠薄膜的制造方法，包括：

至少层叠偏振片和相位差层制造层叠薄膜的工序、和对所制造的层叠 薄膜进行缺陷检查的工序，其特征在于，

所述缺陷检查工序包括：

通过配置在连续运送的层叠薄膜的薄膜面的一侧的光源向层叠薄膜 照射光的工序、

通过配置在所述薄膜面的另一侧的摄像部对层叠薄膜的透过光像进 行拍摄的工序、

根据由摄像部拍摄的透过光像对存在于所述偏振片的缺陷进行检测 的缺陷检测工序、和

对在所述薄膜面和摄像部之间的光程上配置的检查用的偏光滤光器 的偏光轴和所述偏振片的偏光轴的相对角度位置进行调节的工序，

所述偏光滤光器的相对角度位置调节是在0°＜x≤15°的范围内调节 偏光滤光器的相对角度位置x，以使输入到摄像部的可见光的光量成为最 小值，

并且，在所述调节的工序中，最初使用不存在缺陷的层叠薄膜设置成 交叉尼科尔，然后调节所述相对角度位置，在该调节工序之后进行所述缺 陷检测工序。

2.根据权利要求1所述的层叠薄膜的制造方法，其特征在于所述调节 是借助计算机利用光量检测部和光轴调节部进行，利用光量检测部检测出 成为所述最小值的偏光滤光器的位置，并利用光轴调节部调节所述偏光滤 光器的位置以便成为所述最小值。

3.一种层叠薄膜的缺陷检测方法，是至少层叠有偏振片和相位差层 的层叠薄膜的缺陷检测方法，其特征在于，包括：

通过配置在连续运送的层叠薄膜的薄膜面的一侧的光源向层叠薄膜 照射光的工序、

通过配置在所述薄膜面的另一侧的摄像部对层叠薄膜的透过光像进 行拍摄的工序、

根据由摄像部拍摄的透过光像对存在于所述偏振片的缺陷进行检测 的缺陷检测工序、和

对在所述薄膜面和摄像部之间的光程上配置的检查用的偏光滤光器 的偏光轴和所述偏振片的偏光轴的相对角度位置进行调节的工序，

所述偏光滤光器的相对角度位置调节是在0°＜x≤15°的范围内调节 偏光滤光器的相对角度位置x，以使输入到摄像部的可见光的光量成为最 小值，

并且，在所述调节的工序中，最初使用不存在缺陷的层叠薄膜设置成 交叉尼科尔，然后调节所述相对角度位置，在该调节工序之后进行所述缺 陷检测工序。

4.如权利要求3所述的层叠薄膜的缺陷检测方法，其特征在于，

所述相位差层的面内的取向角偏差为6°以上。

5.根据权利要求3所述的层叠薄膜的缺陷检测方法，其特征在于所述 调节是借助计算机利用光量检测部和光轴调节部进行，利用光量检测部检 测出成为所述最小值的偏光滤光器的位置，并利用光轴调节部调节所述偏 光滤光器的位置以便成为所述最小值。

6.一种层叠薄膜的缺陷检测装置，是至少层叠有偏振片和相位差层 的层叠薄膜的缺陷检测装置，其特征在于，包括：

配置在连续运送的层叠薄膜的薄膜面的一侧并对层叠薄膜照射光的 光源，

配置在所述薄膜面的另一侧并对层叠薄膜的透过光像进行拍摄的摄 像部，

在所述薄膜面和摄像部之间的光程上配置的检查用的偏光滤光器，

根据由摄像部拍摄的透过光像对存在于所述偏振片的缺陷进行检测 的缺陷检测部，和

对偏光滤光器的偏光轴和所述偏振片的偏光轴的相对角度位置进行 调节的光轴调节部；

通过所述光轴调节部，在0°＜x≤15°的范围内调节所述偏光滤光器 的相对角度位置x，使得输入到摄像部的可见光的光量成为最小值，

并且，在所述调节时，最初使用不存在缺陷的层叠薄膜设置成交叉尼 科尔，然后调节所述相对角度位置，在该调节之后对所述缺陷进行检测。

7.如权利要求6所述的层叠薄膜的缺陷检测装置，其特征在于，

所述光轴调节部通过使偏光滤光器旋转来调节相对位置角度。