[发明专利]可测试的集成电路及集成电路的测试方法

权利要求书

1.一种集成电路(200，300，400，500，600)，包括：

功能块(130)，通过开关装置(115，125)导电地耦合到电源线(110，120)；

选择装置(140，220，420)，响应于测试启用信号以激活开关装置(115，125)；和

评估装置(230)，具有耦合到参考信号源(215)的第一输入，并具有耦合到开关装置(115，125)和功能块(130)之间的节点(225)的第二输入，用于基于参考信号和来自所述节点(225)的信号来评估开关装置(115，125)的行为。

2.根据权利要求1所述的集成电路，其中评估装置包括用于比较参考信号和来自节点(225)的信号的比较器。

3.根据权利要求2所述的集成电路，其中比较器实现为逻辑门(230)。

4.根据权利要求3所述的集成电路，进一步包括另一逻辑门(310)，所述另一逻辑门(310)包括耦合到所述节点(225)的第一输入，耦合到另一参考信号源(315)的第二输入，和耦合到所述逻辑门(230)的输入的输出。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的集成电路，其中评估装置包括耦合到集成电路的输出的移位寄存器。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的集成电路，其中选择装置包括多路复用器(220)，所述多路复用器(220)具有用于接收测试激活信号的第一输入，用于接收功能激活信号的第二输入和耦合到选择装置(115，125)的输出。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的集成电路(500，600)，其中开关装置(115，125)包括在电源线(110)和功能块(130)之间的并联的多个晶体管，所述选择装置(220)耦合到各个晶体管的每一个的栅极。

8.根据权利要求7所述的集成电路，其中选择装置包括响应于测试启用信号的多个多路复用器(220a-e)，每个所述多路复用器(220a-e)具有：

用于接收测试激活信号的第一输入；

用于接收功能激活信号的第二输入，和

耦合到所述多个晶体管的子集(610a-e)的输出。

9.根据上述权利要求中任一项所述的集成电路，进一步包括：

测试配置装置(210)，用于给选择装置(220)提供测试启用信号，所述测试配置装置(210)包括参考信号源(215)。

10.根据权利要求9所述的集成电路，其中所述测试配置装置(210)实现为移位寄存器。

11.根据权利要求1所述的集成电路，其中：

所述集成电路包括多个功能块(130)，每个功能块通过各个开关装置(115，125)耦合到电源线(110，120)；

所述选择装置包括用于在集成电路的功能模式期间选择各个开关装置(115)的子集的控制器(140)，所述控制器(140)响应于位模式以在集成电路的测试模式中选择所述子集。

12.根据上述权利要求中任一项所述的集成电路(400)，其中功能块(130)通过另一开关装置(125)耦合到另一电源线(120)，所述集成电路进一步包括：

另一选择装置(420)，响应于测试启用信号以激活所述另一开关装置(125)；和

另一评估装置(430)，具有耦合到第二另一参考信号源(415)的第一输入，并具有耦合到所述另一开关装置(125)和功能块(130)之间的另一节点(425)的第二输入，用于基于第二另一参考信号和来自所述另一节点的信号来评估所述另一开关装置(125)的行为。

13.根据权利要求12所述的集成电路，其中所述另一选择装置(420)响应于另一测试配置装置(410)。

14.根据权利要求12或13所述的集成电路，进一步包括测试输出(470)和测试输出选择装置(460)，所述测试输出选择装置(460)具有：耦合到评估装置(230)的输出(240)的第一输入，耦合到另一评估装置(430)的输出(440)的第二输入，和耦合到测试输出(470)的输出。