[发明专利]可测试的集成电路及集成电路的测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种集成电路(IC)，该集成电路包括通过开关装置导电地耦合到电源线的功能块，并涉及一种测试该集成电路的方法。

背景技术

如今，典型地集成电路能够执行多种功能。分离的功能块中可包含分离的功能，例如，芯片上系统(SoC)就是此种情况。典型地，集成电路复杂度的日益增长与IC的功率消耗增加相关联。上电但未激活的功能块可造成部分这种功率消耗。这对于用来为IC供电的电池的寿命是有害的。

该问题的一种解决方法是在功能块及其电源线之间布置开关，例如，功率晶体管。当需要功能块的功能时，控制器激活开关。如此，使非激活功能块保持在断电的状态下，因此，减小IC的功率消耗。

在IC的制造阶段需要测试这种开关以确保其正确运行。PCT专利申请WO01/181937中公开了一种用于测试开关的方法。在IC的两个外部端子中并联(in parallel)布置处于测试控制器控制下的两个开关晶体管。在测试过程中，进行三个测量，其中一个测量是两个晶体管都导通，两个测量是晶体管之一导通，并且从测量中提取出开关晶体管的电阻。该电阻提供了晶体管是否根据规范工作的指示。

然而，该发明的一个缺点是，至少在测试过程中，它受到开关只可通过外部端子访问的限制。对于耦合在电源线和功能块之间的开关来说，并不经常是这样的。此外，现有技术解决方法需要存在并联的开关，这也是应用该方法的限制。

发明内容

本发明目的是提供一种IC和用于这种IC的测试方法和其它事务，不需要并联开关存在于外部端子之间以用于测试所述开关。

根据本发明的第一方面，提供一种根据起始段所述的IC，该IC进一步包括：选择装置，响应于测试启用信号以激活开关装置；和评估装置，具有耦合到参考信号源的第一输入，并具有耦合到开关装置和功能块之间的节点的第二输入，用于基于参考信号和来自节点的信号来评估开关装置的行为。本发明提供一种用于IC的可测性设计(DfT)解决方法，因此，避免了需要通过外部连接器来对开关装置(比如，诸如nMOS或pMOS晶体管的开关，或多个并联的开关)进行直接访问的需要。参考信号的使用使开关装置的片上(on-chip)分析变得容易。

在优选的实施例中，评估装置包括用于将参考信号和来自节点的信号相比较的比较器。这样的比较器可以以逻辑门实现，比如，诸如XOR门的异(exclusive)逻辑门。在参考信号和选择装置提供的测试激活信号为相同的信号的情况下，逻辑门不能发现错的测试激活信号所敏感(sensitize)的故障。为此目的，可增加耦合到节点的另一测试点，诸如另一逻辑门，该逻辑门包括耦合到节点的第一输入、耦合到另一参考信号源的第二输入和耦合到逻辑门输入的输出。此测试点使所述故障的检测变得容易。

可替换地，评估装置可包括耦合到集成电路的输出以使片外(off-chip)评估容易的移位寄存器。优选地，移位寄存器是符合IEEE1149.1或IEEE1500的移位寄存器，该寄存器处于符合所述标准的测试访问端口(TAP)控制器的控制之下。

在一个面积有效的实施例中，选择装置可包括多路复用器，具有用于接收测试激活信号的第一输入，用于接收功能激活信号的第二输入和耦合到选择装置的输出。在开关装置包括在电源线和功能块之间并联的多个晶体管的情况下，选择装置可包括多个多路复用器，其中每个都响应于测试启用信号，每个多路复用器都具有用于接收测试激活信号的第一输入，用于接收功能激活信号的第二输入和耦合到多个晶体管的子集的输出。如此，如果检测到故障，能将其指定到晶体管的子集，因此，提供了关于故障位置的更详细的信息。

该IC进一步包括用于将测试启用信号提供给选择装置的测试配置装置，该测试配置装置包括参考信号源。如此，也能配置参考信号。这样的测试配置装置可由移位寄存器实现，优选地，由符合IEEE1149.1或IEEE 1500的移位寄存器实现，因此提供了对IC的测试布置的容易访问。

可替代地，在集成电路包括多个功能块、每个功能块通过各个开关装置耦合到电源线的情况下，选择装置可包括在集成电路的功能模式中用于选择各个开关装置的子集的控制器，在集成电路测试模式中，该控制器响应于用于选择所述子集的位模式(bit pattern)。可通过测试总线或移位寄存器来提供这样的位模式，因此，提供了一个实施例，其中在功能模式中用于开关装置的控制器也用于测试，这就是面积有效的实施例。