[发明专利]用于测试用于具有可独立寻址的子单元的数据存储装置的数据导引逻辑的方法和设备

权利要求书

1.一种测试插入在具有N个数据通道的数据总线与包括多个存储位置的存储器阵列之 间的接口的写入数据导引逻辑的方法，每一存储位置包括N个对应可寻址子单元， 所述方法包括，对于每一存储位置：

将第一数据模式写入到至少N-1个子单元；

将不同于所述第一数据模式的第二数据模式从N个总线通道中的一者通过所述写 入数据导引逻辑写入到所述N个子单元中的非对应一者，由此至少所述第一数据模 式或所述第二数据模式被写入所述N个子单元的每一者；

使用所有N个总线通道读取所有N个子单元；以及

对于每一子单元，将从所述阵列读取的数据与写入到所述子单元的所述第一或第 二数据模式进行比较。

2.根据权利要求1所述的方法，其中将第一数据模式写入到至少N-1个子单元包括使 用所有N个数据总线通道将第一数据模式写入到所有N个子单元。

3.根据权利要求1所述的方法，其进一步包括对于每一存储位置重复所述测试N-1次， 每次将所述第二数据模式写入到所述存储位置的不同子单元。

4.根据权利要求3所述的方法，其进一步包括对于所述存储器阵列中的每一存储位置 重复所述测试。

5.根据权利要求1所述的方法，其中对从所述阵列读取的所述数据与写入到所述子单 元的所述第一或第二数据模式进行比较包括独立地对从每一子单元读取的所述数 据并行地与写入到所述子单元的所述第一或第二数据模式进行比较。

6.根据权利要求5所述的方法，其中并行地对所述数据进行比较包括，对于每一子单 元，将从所述阵列读取的所述数据和所述第一或第二数据模式引导到N个比较器中 的一者。

7.根据权利要求1所述的方法，其进一步包括，在写入所述第一数据模式之后：通过 所述写入导引逻辑将不同于所述第一数据模式的第二数据模式从第一M个总线通 道写入到所述N个子单元中的M个子单元，其中M是N的整数因子。

8.根据权利要求7所述的方法，其进一步包括对于每一存储位置重复所述测试N/M次， 每次将所述第二数据模式通过所述写入数据导引逻辑从所述第一M个总线通道写 入到所述存储位置的所述N个子单元中的不同M个子单元。

9.根据权利要求1所述的方法，其进一步包括，在非测试模式中，将固定输入引导到 在测试模式中执行数据比较的比较器电路，以防止所述比较器电路在所述非测试模 式中响应于存储器阵列数据读取而切换。

10.一种测试插入在包括多个存储位置的存储器阵列与具有N个对应数据通道的数据总 线之间的接口的读取数据导引逻辑的方法，每一存储位置包括N个可寻址子单元， 所述方法包括，对于每一存储位置：

使用所有N个数据总线通道写入测试数据模式，所述测试数据模式包括用于除了 处于测试中的一子单元外的N-1个子单元的第一数据模式，和用于处于测试中的一 子单元的第二数据模式；

通过所述读取导引逻辑在所述N个总线通道的非对应一者上连续读取N-1个子单 元；以及

对从所述阵列读取的所述子单元数据与写入到所述子单元的所述第一或第二数 据模式进行比较。

11.根据权利要求10所述的方法，其进一步包括对于每一存储位置重复所述测试N-1 次，每次将所述第二数据模式写入到不同的子单元。

12.根据权利要求11所述的方法，其进一步包括对于所述存储器阵列中的每一存储位置 重复所述测试。

13.根据权利要求10所述的方法，其进一步包括，在非测试模式中，将固定输入引导 到在测试模式中执行数据比较的比较器电路，以防止所述比较器电路在所述非测试 模式中响应于存储器阵列数据读取而切换。