[发明专利]多层可成像元件的热处理无效
申请号: | 200780007475.1 | 申请日: | 2007-02-15 |
公开(公告)号: | CN101395536A | 公开(公告)日: | 2009-03-25 |
发明(设计)人: | J·L·马利根;E·克拉克;K·B·雷 | 申请(专利权)人: | 伊斯曼柯达公司 |
主分类号: | G03F7/095 | 分类号: | G03F7/095;G03F7/16;G03F7/09 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 曹 雯;李连涛 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 多层 成像 元件 热处理 | ||
1.一种提供正性的可成像元件的方法,其包括:
A)将第一层提供到基材上,所述第一层包含分散在第一聚合物粘合 剂中的第一辐射吸收化合物,其中所述第一聚合物粘合剂包含衍生自一种或 多种以下单体的重复单元:(甲基)丙烯酰胺、(甲基)丙烯腈、N-取代环状酰 亚胺、苯乙烯类衍生物和具有含有脲基的侧基的单体,
B)将第二层提供到所述第一层上,所述第二层包含分散在具有羟基 的第二聚合物粘合剂中的第二辐射吸收化合物,以及
C)在干燥第一和第二层后,在阻止水分从干燥的第一和第二层脱除的 条件下,于40~90℃热处理所述第一和第二层至少4小时,
其中在热成像之前,第二层是不可用碱性显影剂除去的,但是在热成像 之后,第二层的成像区域可用碱性显影剂除去,且第一层也可通过碱性显影 剂除去。
2.根据权利要求1所述的方法,其中所述热处理进行至少20小时。
3.根据权利要求1所述的方法,其中所述热处理在50~70℃下进行至少 24小时。
4.根据权利要求1所述的方法,其中在所述热处理期间,将所述可成 像元件包裹或包装在不透水的片材中以有效阻挡水分从前体中脱除,或在将 相对湿度控制为至少25%的环境中对所述可成像元件进行所述热处理。
5.根据权利要求4所述的方法,其中在所述热处理期间,所述不透水 的片材在所述可成像元件的边缘周围密封。
6.根据权利要求5所述的方法,其中所述不透水的片材为在所述可成 像元件边缘周围密封的聚合薄膜或金属箔。
7.根据权利要求1所述的方法,其中所述可成像元件以包含至少100 个相同的可成像元件的层叠件形式进行热处理。
8.根据权利要求1所述的方法,其中所述可成像元件以卷材的形式进 行热处理。
9.根据权利要求1所述的方法,其中所述第二聚合物粘合剂为酚醛树 脂或聚(羟基苯乙烯)树脂。
10.根据权利要求1所述的方法,其中所述第一和第二辐射吸收化合物 为相同的化合物。
11.根据权利要求1所述的方法,其中所述第一辐射吸收化合物的存在 量为0.5~10重量%,所述第二辐射吸收化合物的存在量为0.5~10重量%。
12.根据权利要求1所述的方法,其中所述第一聚合物粘合剂包含衍生 自一种或多种以下单体的重复单元:(甲基)丙烯酰胺、(甲基)丙烯腈、N-取 代环状酰亚胺和由以下结构式(I)或(II)表示的单体:
CH2=CH(R1)-C(O)-X-(Y)m-R2
(I)
CH2=CH(R1)-Ar-[(Y)m-R2]p
(II)
其中R1为氢、低级烷基或卤素基团,X为氧或-NR′-,R′为氢或烷基, Ar为亚芳基,Y为亚烷基,R2为-NHC(O)NH-苯基,其中苯基部分任选被 一个或多个羟基、羧基或-S(O)2NH2基团取代,m为0或1,p为l~5,条件 是结构式(I)中R2为-NHC(O)NH-苯基时,m为1。
13.根据权利要求12所述的方法,其中R1为氢或甲基;R′为氢或甲基; Ar为亚苯基;Y为具有1-4个碳原子的直链或支链的亚烷基;m为1;p为 1;以及R2为-NHC(O)NH-苯基,其中苯基部分任选被一个或多个羟基、羧 基或-S(O)2NH2基团取代。
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